覆層測厚儀

TT220覆層測厚儀基本配置：
■TT220主機 一臺
■標準樣片 1盒
■標準基體 1塊
■充電器 1個

技術參數：
■測頭類型：F。
■測量原理：磁感應。
■測量范圍：0-1250um。
■低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
■探頭連接方式：一體化。
■示值誤差：一點校準（um）±[3%H 1]。
■兩點校準（um）： ±[（1～3）%H 1]。
■測量條件：小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
■基體小面積的直徑（mm）：ф7。
■小臨界厚度（mm）：0.5。
■溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
■統計功能：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數（NO．）、
標準偏差（S．DEV）。
■工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
■測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設置。
■存儲能力：15 個測量值。
■打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦。
■關機方式：自動。
■電源：二節3.6V鎳鎘電池。
■外形尺寸：150×55.5×23mm。
■覆層測厚儀重量：150g。
■基本配置：主機。
■標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
■鐵基體。
■充電器。
■可選附件。
■TA230打印機。

主要功能：
■可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正：
■具有兩種測量方式地：連續測量方式（continue）和單次測量方式（single）;
■具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；
■具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
■設有五個統計量：平均值地（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測試次數（NO.）、標準偏差（S.DEV）；
■具有打印功能，或打印測量值、統計值；
■具有欠壓指示功能；
■操作過程有蜂鳴聲提示；
■具有錯誤提示功能；
■具有自動關機功能。