透過率測量儀

TMS-PRO和TMS-D透過率測量儀能快速準確地測量各類Pad面板的透過率，可用于同一面板多個小孔測量，實時顯示單、多點波長透過率數據及波段平均透過率數據、實時顯示半透波長及透過率等。

透過率測量儀特點：

• 采用大角度采集全穿透式測量
• 采用數字視頻對焦，使微小區域實現準測量
• 實時顯示測量樣品關注波長位置的透射率數據及半透波長檢測，自動調整顯示坐標范圍，可對批量樣品進行高效檢測及譜圖對比分析
• 可自定義測量方案，設置判定標準，自動判定“OK”和“NG”，使檢測更快速，結果更準確
• 高性能探測器，單次測量小于1秒，重復性高
• 可對多孔進行快速測量
• 小測量孔徑可達φ0.3mm

應用范圍：

• 面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測量
• 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測量
• 太陽膜、濾光片光學元件透光測量

  技術參數：

  型號		TMS-PRO	TMS-D-Ⅰ	TMS-D-Ⅱ
  測量系統		全光譜	全光譜	全光譜
  檢測器		Hamamatsu薄型背照式CCD	Sony線形CCD 陣列	Hamamatsu薄型背照式CCD
  檢出限		0.05%	0.1%	0.05%
  光度準確性		0.5%	0.5%	0.5%
  光度重復性		0.2%（420~950nm）	0.5%（420~950nm）	0.2%（420~950nm）
  波長檢測范圍		380-1100nm	380-1000nm	380-1100nm
  信噪比（全信號）		450:1	250:1	450:1
  波長重復率		0.1nm
  樣品測試平臺		X、Y軸可調
  光源		高功率鹵素光源
  光斑直徑		＞0.2~1mm（可選）
  樣品大小		≥0.3mm
  測量時間		＜0.2s
  對焦方式		數字相機視頻對焦
  物鏡		10X
  軟件		Qspec Suite V1.0，可顯示單、多點波長數據，可手動和自動保存數據，自動統計所測產品批號總數、良品、不良品的數量及百分比并以報表的形式一鍵導出，超差報警提示，可根據用戶標準校準機差。
  操作系統/接口		Windows 7~Windows 10/USB2.0