AgilentE5501B噪聲系數測試儀縮短了用于 1 端口 VOC、DRO、晶體振蕩器以及合成器的 ATE 測試時間,并大程度地提升了研發臺式應用的功能。 Agilent E5501B 相位噪聲測量解決方案旨在簡化 1 端口 VCO、DRO、晶體振蕩器以及合成器的相位噪聲測量,并大程度地提升研發臺式應用的功能。 此外,憑借 0.01 Hz ~ 100 MHz 的標準偏置范圍, Agilent E5501B 可提供全面的功能、靈活性和通用性,滿足研發工程師不斷變化和日益苛刻的需求。 Agilent E5501B 系列解決方案以安捷倫三十余年的低相位噪聲、射頻設計和測量經驗為基礎,繼續提供出色的測量完整性、可重復性和精度。
AgilentE5501B噪聲系數測試儀相位噪聲測量解決方案,簡化了,一個端口VOC,設立代 處,晶體振蕩器和合成器的ATE測試時間,并大限度地提高R&D臺式應用能力。安捷倫E5501B相位噪聲測量解決方案的設計,以簡化的一個端口的 VCO,設立代處,晶體振蕩器和合成器的相位噪聲測量,R&D臺式應用的能力大化。此外,一個標準的偏移范圍從0.01 Hz到100 MHz的能力,安捷倫E5501B提供的能力,靈活性和通用性,以滿足不斷變化的,并要求放置在研發工程師的需求。 30年的安捷倫科技的低相位噪聲,射頻設計和測量經驗的基礎上,安捷倫E5501B解決方案的繼續提供出色的測量完整性,重復性和準確性。
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