HIOKI 3504-60 3504-50 3504-40 LCR測試儀適合封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類。
HIOKI 3504-60 3504-50 3504-40 LCR測試儀能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷,高速測量2ms。
HIOKI 3504-60 3504-50 3504-40 LCR測試儀對應測試線,比較器功能/觸發輸出功能,查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率。
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試。
3504-40記錄工具,實現高速/低成本的測試。
測量參數 | Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ) |
測量范圍 | C:0.9400pF~20.0000mF |
D:0.00001~1.99000 | |
基本精度 | (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 |
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數 | |
測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測量信號電平 | 恒定電壓模式: 100mV (*3504-60), 500 mV, 1 V |
測量范圍: | |
CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) | |
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) | |
CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) | |
輸出電阻 | 5Ω(CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時) |
顯示 | 發光二級管 (6位表示,滿量程計算器根據量程而定) |
測量時間 | 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) |
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 | |
功能 | BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C拒絕功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外) |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 大110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 電源線×1,預備電源保險絲×1,使用說明書×1 |