尼克斯1200膜厚計一體化設計,只需調零,無需校準,使用極其簡單。其中qnix1200為磁性測厚儀,可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層;qnix1500為磁性和渦流兩用測厚儀,不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體,還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單,攜帶方便,精度高,探頭和機身成90°直角設計,可滿足一些狹小空間(如管道內壁)的測量,為廣大用戶所喜愛。
尼克斯1200膜厚計優點:
1.只需調零,無需校準
2.雙探頭雙用途
3.qnix1500單探頭量程可達5000um
4.自動開關機
5.探頭直角設計,方便測量管內壁等狹小空間
技術參數:
磁性基體 | fe探頭(qnix1200/1500) |
測量范圍 | qnix1200型 : 0-2000um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數 1000-3000um≤±3% |
zui小接觸面 | 10×10mm |
zui小曲率半徑 | 凸面:5mm 凹面:25mm |
zui小基體厚度 | fe:0.2mm/nfe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | lcd液晶 |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 1×9v電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
特點 | 直角設計方便測量管內壁 |