傳統的充/放電電容測量方式存在以下的問題:
- 在充/放電檢測過程中,容易受到EMC干擾;
- 沒有理想的電容,每個電容都有寄生參數的存在;
- 電路中始終存在因環境因素而變化的等效并聯電阻。
AS8579根據測量阻抗值原理進行設計,內部集成了模擬多路復用器(MUX),多達10路的阻抗值檢測通道。MCU可從AS8579中讀取每個通道所采集的I和Q分量,從任意兩個通道測量的結果中推導出電容值,這樣的測量方式去除了等效并聯電阻的影響,直接計算出最準確的電容值。
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AS8579根據測量阻抗值原理進行設計,內部集成了模擬多路復用器(MUX),多達10路的阻抗值檢測通道。MCU可從AS8579中讀取每個通道所采集的I和Q分量,從任意兩個通道測量的結果中推導出電容值,這樣的測量方式去除了等效并聯電阻的影響,直接計算出最準確的電容值。
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