壓電陶瓷高溫性能測量鐵電參數測試儀器
產品介紹:
本測試系統采用虛地模式測量電路,與傳統的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環節,比較容易定標和校準,并且能實現較高的測量,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩余化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數,以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設計,實現測試結果全數字化,操作簡單方便。
軟件功能:
HC5000系列測試系統的軟件平臺hacepro,采用labview系統開發,符合導體、半導體材料的各項測試需求,具備穩定性與安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢復。兼容,XP、win7、win10系統。
友善的使用界面
多語界面:支持中文/英文 兩種語言界面;
即時監控:系統測試狀態即時瀏覽,無需等待;
圖例管理:通過軟件中的狀態圖示,對狀態說明,了解測試狀態;
使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;
故障狀態:軟件具有設備的故障報警功能。
優點:
可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態壓電常數;
測量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數及介質損耗測試;
可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數測試
它可測量壓電陶瓷的品質因數及機電耦合系數
可選配不同的測試裝置進行不同環境下的壓電陶瓷參數測試
本儀器可配合高壓放大器實現壓電及鐵電材料的綜合測
壓電常數測試原理:
熱釋電系數測試原理: