Microchip公司(原Microsemi)的5120A相位噪聲及艾倫偏差(ADEV)測試儀,采用超低噪底,準確、高速的數模轉化器,無需外部校準。全數字一體化設計,一次按鍵便可開始測量,幾秒鐘后測試數據便出現在高分辨率顯示屏上。
5120A采用了創新的互相關技術,交叉關聯雙通道的離散傅里葉變換,抵消了系統本身的噪聲,更好的估算輸入信號的噪聲,從而獲得更精確的測量結果。
5120A可選擇增添內部振蕩器選項(-01選項),無需外部參考源,獨立完成測量。
2相位噪聲和艾倫方差同時測量
2頻率范圍:1-30MHz
2業界的精度(±1.0 dB)
2艾倫方差測量超過300天
2相位噪聲測量接近0.1mHz
2實時顯示本底噪聲
2通過網口遠程管理和數據采集
2可選的內部參考振蕩器
2相位噪聲測量低至-175 dBc / Hz
主要優點:
2測量結果在幾秒鐘內顯示(無需外部數據處理)
2支持不同頻率的輸入和參考測量
2無需測量校準(節省時間)
2性價比解決方案
2易于使用的圖形用戶界面