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方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產品，是一種依照類似國家標準和美國A.S.T.M標準而設計，專門
測量半導體方塊電阻（或稱薄屋電阻、面電阻，單位Ω/□）的新型儀器。可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（如ITO
透明導電氧化膜）……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配
以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定；
以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；
體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
輕便手持式設計操作、測試簡便； *.特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；
帶探頭與被測物質接觸良好指示（LED） 、探頭帶抗靜電模塊；
單電源開關，推拉式探頭-主機接插件，操作極其簡便；
測量半導體方塊電阻（或稱薄屋電阻、面電阻，單位Ω/□）的新型儀器。可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（如ITO
透明導電氧化膜）……等同類物質的薄層電阻。
該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配
以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定；
以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；
體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
輕便手持式設計操作、測試簡便； *.特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；
帶探頭與被測物質接觸良好指示（LED） 、探頭帶抗靜電模塊；
單電源開關，推拉式探頭-主機接插件，操作極其簡便；
技術指標
按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
1 1.00～199.99Ω/□；
2 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源：
測量過程誤差：≤±0.8%；
模數轉換器：
量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度：
在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針頭：
間距：1mm或3.8mm可選,偏差：≤2%；
針間絕緣電阻≥500MΩ；
電源：9V疊層電池1節
1 1.00～199.99Ω/□；
2 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源：
測量過程誤差：≤±0.8%；
模數轉換器：
量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度：
在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針頭：
間距：1mm或3.8mm可選,偏差：≤2%；
針間絕緣電阻≥500MΩ；
電源：9V疊層電池1節
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