產品描述
德國Fischer X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優化的X射線熒光測量儀器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
產品特點:
? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計;? 配備固定的準直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析
? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),適用于更復雜的多元素分析
? 由下至上的測量方向,可以*簡便地實現樣品定位
典型應用領域包括:
? 珠寶、貴金屬和牙科合金? 黃白色黃金
? 鉑和銀
? 銠
? 合金和涂層分析
? 多層涂層分析
預期用途 | 能量色散X射線測量儀(ED XRF)用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。 |
元素范圍 | 硫S(16)至鈾U(92)–同時多達24種元素 |
重復性 | 對于金≤0.5‰,測量時間60秒 |
設計 | 臺式單元,帶有向上打開的罩 |
測量方向 | 自下而上 |
X射線管 | 帶鈹窗的微焦點鎢管 |
高電壓 | 3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;*大陽極電流:1 mA |
光圈(準直儀) | ? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils) |
測量點 | ? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品(測量距離0毫米) |