一、產品介紹
該款紫外輻照計采用 SMT 貼片技術,選用高精度低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
二、產品參數
1、波長范圍及峰值波長:(以下兩種選其一)
(1)UV-340 探頭:λ:(315~370)nm;λP=340nm
*(2)UV-313 探頭:λ:(290~340)nm;λP=313nm輻照度測量范圍:(0.1~199.9×103) μW/cm2
2、紫外帶外區雜光:UV313:小于 0.05%
UV340:小于 0.05%
3、相對示值誤差:±8%(相對與 NIM 標準)
4、余弦特性(方向性響應)誤差:±10%
5、線性誤差:±1%
6、換檔誤差:±1%
7、短期不穩定性:±1%(開機 30min 后)
8、疲勞特性:衰減量小于 2%
9、零值誤差:滿量程的±1%
10、響應時間:1 秒
11、使用環境: 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH
12、尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg
13電源: 常規使用 6F22 型 9V 積層電池一只亦可使用數據線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電,整機功耗<0.1VA
三、產品特點
1、光譜及角度特性經嚴格校正
2、數字液晶顯示,帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數字輸出接口(USB,冗余供電)
5、低電量提醒
6、自動延時關機
7、有數字保持8、輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
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技術顧問:伊工
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