VIAVI MAP-200 mORL/mIL 插損/回損測試解決方案

光連接解決方案（光連接器、結構化布線、分路器及其機殼）對于連接密集型中心局、數據中心和光分配網絡至關重要。在遠程通信、數據通信、無線回傳和FTTx之外，在海洋、航空電子和軍事應用繼續大幅增加的同時，新式超級計算應用也在不斷涌現。所有這些市場都是由更高的帶寬要求推動的。出于必要，市場上不斷推出新的連接器規格，這是由降低安裝成本、加快部署的需求推動的。

但這些連接點的質量和光性能往往被忽視。插損和回損（IL和RL）不佳可能會對網絡性能造成深遠影響。性能不佳會直接影響接入和可靠性，甚至會阻礙技術升級之路。同時，經濟因素也要求制造商繼續降低成本、加快生產并縮短上市時間。

主要優點

?      使生產效率增加4倍

?      所需空間為其他測試平臺的25%

?      可擴展至高成長性、高性能新應用，例如40/100G數據中心市場

?      模塊化平臺可根據需要在預算允許范圍內擴展

?      通過端口映射在15秒以內驗證多芯光纖MPO組件的連通性及雙向性能

?      *支持快速增長的MPO和MTP多光纖連接器的測試

應用

?      對光連接器和光纜組件、結構化布線解決方案和光分路器的插損/回損/長度進行測試

?      對多芯光纖組件（例如MPO）進行自動測試

?      單模和多模光纖測試解決方案