JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

特點：

實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

STEM-HAADF像的保證分辨率達到了的58pm

采用JEOL自主研發的球差校正器，掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。

ETA校正器 JEOL自主研發的12極球差校正器　※選配件

ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

強大的冷場發射電子槍HyperCF300

標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

兩種物鏡極靴

為了支持用戶廣泛的需求，研發了兩種各具特點的物鏡極靴。

豐富的選購件

能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

大范圍的加速電壓設置

標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。

新開發的真空系統

新的排氣系統達到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

高穩定的鏡筒和樣品臺

整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上，把電氣穩定性和對環境的抗力提高到新高度。

規格：