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XDL / XDLM / XDAL
憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。 
特性：
· X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
· 由于測量距離可以調節（較大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
· 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
· 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量較薄鍍層（XDAL 設備）
應用：
鍍層厚度測量
· 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
· 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
· 復雜幾何形狀產品上的鍍層
· 鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
· 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
材料分析
· 電鍍槽液分析
· 電子和半導體行業中的功能性鍍層分析
