JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

·實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

·JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

·STEM-HAADF像的保證分辨率達到了的58pm

·采用JEOL自主研發的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。

·ETA校正器 JEOL自主研發的12極球差校正器　※選配件

·ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

·強大的冷場發射電子槍HyperCF300

·標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

·兩種物鏡極靴

·為了支持用戶廣泛的需求，研發了兩種各具特點的物鏡極靴。

·豐富的選購件

·能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

·大范圍的加速電壓設置

·標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。

·新開發的真空系統

·新的排氣系統達到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

·高穩定的鏡筒和樣品臺

·整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上，把電氣穩定性和對環境的抗力提高到新高度。

                                                                                                                      分辨率                                               300 kV，80 kV