ED400型渦流測厚儀【ED400測厚儀】ED400 便攜式 現貨供應 輕便

ED400型渦流測厚儀

產品概述：

ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽.氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽.氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。

儀器符合 標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

儀器特點：
ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達到0～500μm。
＊精度高 測量精度達到2%。
＊分辨率高 分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0”和“50μm”兩點，即可在全量程范圍內保證設計精度。
＊基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優化，儀器可靠性提高。
＊穩定性提高 采用先*的溫度補償技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產現場長期使用。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。

技術參數：

測量范圍：0～500μm
測量精度：0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率：0～50μm：0.1μm；
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：5～45℃
外形尺寸：150mm×80mm×30mm
重 量：280g

配置與選配：

標準配置：主機、探頭、基體（6063鋁合金）、校正箔片 一套4片（附檢測報告）、儀器箱

可選附件：備用探頭、基體、校正箔片（附檢測報告）