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| 產品介紹
三箱式冷熱沖擊試驗箱100L
- 突出特點：
合作案例
技術參數
| 型號 | AS3- | |||
| 100A | 100B | 100C | ||
| 性能 | 溫度范圍 | -55℃～+180℃ | -70℃～+180℃ | -75℃～+180℃ |
| 溫度沖擊范圍 | -40℃至+150℃（高溫+60℃至+150℃；低溫-40℃至-10℃） | -55℃至+150℃（高溫+60℃至+150℃；低溫-55℃至-10℃） | -65℃至+150℃（高溫+60℃至+150℃；低溫-65℃至-10℃） | |
| 溫度波動度 | ≤±0.5℃（恒溫時） | |||
| 溫度偏差 | ≤±2.0℃ | |||
| 溫度均勻度 | ≤±2.0℃ | |||
| 溫度恢復時間 | ≤5分鐘 | |||
| 轉換時間 | ≤10S | |||
| 升降溫過沖 | ≤±2.0℃ | |||
| 高溫室 | +60℃～+180℃ | |||
| 預熱時間 | +60℃～+180℃ 30分鐘以內 | |||
| 低溫室 | -55℃～-10℃ | -70℃～-10℃ | -75℃～-10℃ | |
| 預冷時間 | +20℃～-55℃ 45分鐘以內 | +20℃～-70℃ 45分鐘以內 | +20℃～-75℃ 45分鐘以內 | |
| 試驗室 | -40℃～+150℃ | -55℃～+150℃ | -65℃～+150℃ | |
| 恢復時間 | 高溫暴露30分鐘 | |||
| 低溫暴露30分鐘 | ||||
| 恢復時間5分鐘以內 | ||||
| 標稱內容積（L） | 100 | |||
| 內箱尺寸 （寬*深*高）mm | 500 | |||
| 400 | ||||
| 500 | ||||
| 外箱尺寸 （寬*深*高）mm | 1600 | |||
| 1700 | ||||
| 1950 | ||||
| 材質 | 內箱材質 | 不銹鋼（SUS 304） | ||
| 外箱材質 | 鋼板靜電噴涂表面處理或不銹鋼(SUS304) | |||
| 保溫材質 | 高密度聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉 | |||
| 送風測溫系統(tǒng) | 送風特點 | 由試驗箱從右向左水平送風 | ||
| 循環(huán)馬達 | 中國臺灣東元高低溫馬達 | |||
| 風輪 | 耐高低溫鋁合金葉片多翼離心式風輪，耐高低溫鋁合金葉片 | |||
| 溫度傳感器 | T型鉑電阻溫度傳感器 | |||
| 制冷系統(tǒng) | 水冷或風冷 | |||
| 機械式蒸氣壓縮復疊式，環(huán)保冷媒R404A/R23 | ||||
| 控制電路系統(tǒng) | 控制方式 | 由控制器輸出信號通過SSR固態(tài)繼電器實現(xiàn)高精度無觸點開關控制 | ||
| 控制電路 | 控制線路主要零部件均為優(yōu)質品牌(如法國施耐德電氣) | |||
| 控制器 | 顯示屏 運行方式 記憶容量 控制精度 傳感器輸入 通訊接口 | 7寸TFT真彩LED液晶觸摸屏接口（65535真彩色，分辯率800*480）； 程式控制，定值控制； 程序容量可達127個程式，超長運行，每段999小時，32000次循環(huán)； -90.0℃～200.0℃（-90.0℃～300.0℃可定制）誤差±0.2℃； 同時支持T、PT100等多種傳感器輸入； 自帶USB接口，支持RS-485、LAN、GPRS（手機）等方式通訊 （軟體另購） | ||
| 結構 | 箱門 | 單開門一式，左開 | ||
| 箱體固定 | 標準配置腳輪及固定器具，用于移動箱體/用于固定箱體 | |||
| 測試孔 | ф50測試孔1個（帶軟質耐老化橡膠塞） | |||
| 密封 | 硅膠密封條 | |||
| 壓力平衡口 | 1/2寸排水共用型 | |||
| 設備排水口 | 標配1/2內箱凝結水及機組余水排水口 | |||
| 設備噪音 | ≤70dB（A聲級, 恒定時,設備正前方1米處） | |||
| 使用環(huán)境溫度 | +5℃～+35℃ | |||
| 電源功率 | AC 380（1±10%）V （50±0.5）Hz 三相四線+保護地線 | |||
| 保護裝置 | 超溫保護裝置；防空焚保護裝置；電源欠逆相保護器；壓縮機過熱保護開關；壓縮機高低壓保護開關；壓縮機過電流保護開關；氣源低壓保護開關；蜂鳴器；無熔絲開關；線路保護開關。 | |||
| 標準配件 | 試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設備出廠前經本公司質量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。 | |||
注：以上技術參數為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載（無試樣）時下所測得。
試驗標準及方法
1）GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；
2）GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
3）GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
5）GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；
6）GJB/T 150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；
7）GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。
標準配置
試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設備出廠前經本公司質量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。
