模塊一體化概念

模塊一體化概念和完整的激光掃描儀解決方案為各種應

用提供的靈活性。

及時發現偏差

省時省錢：該移動式測量解決方案可作用于車間現場，帶

來直觀的零件分析，測量，以及數模建立。

用戶引導性的軟件工作流程

T-SCAN 系統現與 GOM Inspect Suite 軟件套裝結合。用

戶可在視察器上實時查看掃描進度，并在掃描，探針探測和檢測過程中獲得軟件操作提示。

移動式測量系統 兩種適配選擇

手持式激光掃描儀可同時與接觸式探針，以及另外

兩款光學跟蹤系統搭配使用。蔡司 T-TRACK 20 作

為一套技術裝備成熟的系統，可覆蓋20 m³的

測量體積，全新蔡司 T-TRACK 10 則適用于較小的

測量體積，滿足更高的精度要求。

數據輕松捕捉手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN

T-SCAN 掃描儀可進行快速，直觀的三維數據采集。手持式設計符合人體工學，掃描輕松不費力。測頭輕巧，結構緊湊，尤其適用于可及性非常差的零件部位的數據采集。

多尺寸測量ZEISS T-TRACK 20

蔡司 T-TRACK 20的測量體積可達20 m³。單次

設置即可測量大至4m的零件。上手容易，您可

以高效，準確，快速地采集到三維數據只需將

零件放入其跟蹤體積范圍內，即可進行測量，

無需準備參考點。可追溯的精度確保數據重復性

和可靠性。

高精度測量ZEISS T-TRACK 10

全新 T-TRACK 10 光學跟蹤系統的測量體積可達10 m³， 與T-SCAN10 結合，只需進行一次設置，就可以測量長達2.5 m的零件。配備高品質的蔡司光學元件，尤其適用于對精度有高要求的工業應用。可追溯的精度確保數據重復性和可靠性。

快速單點測量ZEISS T-POINT

蔡司 T-POINT 接觸式探針是對物體標準幾何形狀，切邊區

域，以及光測量手段難以進入的死角區域進行單點測量的

理想解決方案。它可以快速，穩定地采集到目標位置的三

維數據。該設備可以與傳統的測量探針一起使用，更換起

來方便快捷

擴展您的測量體積ZEISS T-SCAN SMTs

通過使用 T-SCAN SMT（球形標靶），您可以進一步擴展測量體積，甚至結合多個蔡司 T-SCAN 系統使用。 當被測零件尺寸過大，或者表面形狀阻礙激光投射時，您可以將這個方便的多位置跟蹤應用程序安裝到物體上，從而獲得精度一致的三維數據。

高過程可靠性GOM Inspect Suite

GOM Inspect Suite 擁有成熟的三維計量體系標準。

蔡司 T-SCAN 目前與 GOM Inspect Suite 多合一軟件

解決方案實現同步結合。測量和檢測均可以在軟件

中執行，全參數化的工作流程確保所有過程步驟的

可追溯性。此外軟件提供用戶操作指引，可輔助用

戶進行掃描和探測，從而簡化并加快工作流程。

快速和高精度三維掃描

一系列出色的產品技術特征，比如適用于掃描各類物體表面

的高動態范圍，創新攝像技術，高品質蔡司光學元件和高數

據速率結合，確保了流暢的掃描過程和精確的測量結果。

動態參考

即使在移動的物體上也能高精度采集三維數據。動態參考可以讓您不受零部件運動和震動等惡劣條件影響，高效完成測量任務。