高絕緣體積電阻率測(cè)定儀

n   符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T1410-2006固體絕緣材料體積表面電阻率試驗(yàn)方法

GB/T 31838.1.2.3-2019固體絕緣材料介電和電阻特性

GBT2439-2001硫化橡膠或熱塑性橡膠導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定

GBT1692-2008 硫化橡膠絕緣電阻率的測(cè)定

GBT10064-2006 測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗(yàn)方法、GB/T3048.5電線電纜電性能試驗(yàn)方法

n   概述：

高絕緣體積電阻率測(cè)定儀既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó)In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。量限從1×104Ω ～1×1018 Ω，是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍zui寬，準(zhǔn)確度zui高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為10/50/100/250/500/1000V任意可調(diào)。高絕緣體積電阻率測(cè)定儀具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便， 適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量微弱電流。

n   主要技術(shù)參數(shù)：

1、電阻測(cè)量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω。
2、電流測(cè)量范圍： 2×10-4A～1×10-16A
3、顯 示 方 式：數(shù)字液晶顯示
4、內(nèi)置測(cè)試電壓： 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V（任意切換）
5、基本準(zhǔn)確度：1% (*注)
6、使用環(huán)境： 溫度：0℃～40℃，相對(duì)濕度<80%
7、供電形式： AC 220V，50HZ，功耗約5W
8、儀器尺寸： 285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm
9、質(zhì)量： 約5KG
10、體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高，電阻、電流雙顯示，性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便
11、所有測(cè)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀，免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。

n   配置清單：

n   測(cè)試步驟
1.打開(kāi)設(shè)備電源開(kāi)關(guān)，預(yù)熱10分鐘。
2.打開(kāi)屏蔽箱門(mén)，將被測(cè)試品放置在三電極中間位置，試品應(yīng)全部覆蓋不保護(hù)電極。
3.按照?qǐng)D×的接線方式接好線，右側(cè)藍(lán)色線接被保護(hù)電極，中間黑色線接不保護(hù)電極，左側(cè)黑色線接保護(hù)電極。
4.調(diào)整保護(hù)電極的位置，使保護(hù)電極和被保護(hù)電極之間的間隙均勻。
5.關(guān)閉屏蔽箱門(mén)，設(shè)置換擋時(shí)間（默認(rèn)2s），電化時(shí)間（默認(rèn)60s），厚度。
6.同一個(gè)試品需要測(cè)量表面電阻和體積電阻時(shí)，北京檢測(cè)儀器一定要先測(cè)表面電阻后測(cè)體積電阻。將“表面/體積”檔位開(kāi)關(guān)至需要的檔位。
7.按啟動(dòng)按鈕，觀察電阻值和檔位的變化，當(dāng)檔位穩(wěn)定開(kāi)始電化計(jì)時(shí)，電化時(shí)間到后記錄電阻值。
8.測(cè)試樣品結(jié)束，觀察高壓指示燈滅，打開(kāi)試驗(yàn)箱，換取試品，重復(fù)步驟2～7。
9.試驗(yàn)結(jié)束，關(guān)閉電源，用綢布蓋住設(shè)備，北京檢測(cè)儀器保持清潔。

n   注意事項(xiàng)

1.使用前務(wù)必詳閱北京檢測(cè)儀器說(shuō)明書(shū)，并遵照指示步驟，依次操作。

2.設(shè)備必須在環(huán)境溫度0～40℃，濕度不大于70%的環(huán)境下進(jìn)行。

3.機(jī)殼必須可靠接地。

4.開(kāi)機(jī)后必須預(yù)熱不少于10分鐘。

5.試品尺寸必須大于不保護(hù)電極面積。

6.試品必須放在屏蔽箱內(nèi)并關(guān)上門(mén)進(jìn)行測(cè)試。

7.同一個(gè)試品需要測(cè)量表面電阻和體積電阻時(shí)，北京檢測(cè)儀器一定要先測(cè)表面

電阻后測(cè)體積電阻。

8.同一試品采用不同電壓測(cè)試時(shí)，應(yīng)先用低電壓測(cè)試，再用高電壓測(cè)試。反之

會(huì)使測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)較大誤差。

9.絕緣電阻越大，電化時(shí)間需要越長(zhǎng)才能夠趨于穩(wěn)定，一般取值60s，也可根

據(jù)實(shí)際情況自行設(shè)定。

10.針對(duì)同一試品兩次以上的測(cè)試，務(wù)必要確保兩次測(cè)試時(shí)的環(huán)境條件（如：溫

度、濕度等）及測(cè)試條件（如：充放電時(shí)間）一致，且有足夠長(zhǎng)的時(shí)間間

11.測(cè)試電壓取1000V時(shí)，北京檢測(cè)儀器測(cè)試電阻值1×107Ω～1×1016Ω，電

壓取100V時(shí)，測(cè)試電阻值1×106Ω～1×1015Ω，電壓取10V時(shí)，測(cè)試電阻值

1×105Ω～1×1014Ω。

n   絕緣電阻測(cè)試中的影響因素及分析

絕緣電阻是電氣設(shè)備的重要技術(shù)指標(biāo)，其絕緣性能的優(yōu)劣，直接關(guān)系著設(shè)備能否正常運(yùn)行，以及人員和財(cái)產(chǎn)的安危問(wèn)題，故測(cè)試絕緣電阻是 電氣技術(shù)和保障安全生產(chǎn)的重要工作。但是在 測(cè)試過(guò)程中，往往因?yàn)橐恍┎涣己筒焕蛩氐挠?響，導(dǎo)致測(cè)得數(shù)據(jù)不夠準(zhǔn)確，未能真實(shí)反映被測(cè) 設(shè)備的實(shí)際絕緣狀況，可能造成判斷結(jié)果的偏 差，甚至是誤判。

1 被測(cè)設(shè)備方面的影響因素

1．1殘余電荷的影響

對(duì)于電氣設(shè)備絕緣電阻的測(cè)試，必須是在設(shè) 備全不帶電的狀態(tài)下進(jìn)行。因此，在測(cè)試前應(yīng) 切斷被測(cè)設(shè)備的電源以及同內(nèi)外界的所有可能 的電信號(hào)聯(lián)系，而且還要進(jìn)行驗(yàn)電。對(duì)于電容性 電氣設(shè)備而言，還必須采用適當(dāng)?shù)姆椒ㄟM(jìn)行充分 的放電，在確信沒(méi)有殘余電荷后，方可進(jìn)行絕緣 電阻測(cè)試。但有時(shí)由于疏忽大意、驗(yàn)電不準(zhǔn)確、 放電不che底及其他原因而造成被測(cè)設(shè)備一定程 度的帶電，無(wú)論是次測(cè)試還是重復(fù)測(cè)試，均會(huì) 使測(cè)試過(guò)程中絕緣物中流過(guò)的各組分電流成分 的數(shù)值偏離正常測(cè)試狀態(tài)，所得到的充電電流和 吸收電流均小于正常值，造成吸收比減小、絕緣 電阻增大的假象，從而造成測(cè)試結(jié)果的偏差。

1．2污物的影響

污物是指被測(cè)設(shè)備的被測(cè)部分沾染的灰塵、 油污、泥土、水分等污穢物質(zhì)，如埋在地下的電纜 和冶金、煤炭、化工、礦山等行業(yè)的露天的，或多 塵、潮濕場(chǎng)合的電氣設(shè)備，由于這些污物大多都 能導(dǎo)電，使絕緣物表面的電阻降低，歪曲了絕緣 物的真實(shí)絕緣狀態(tài)。為此，在測(cè)試之前，必須對(duì) 被測(cè)物的有關(guān)部分進(jìn)行底地清理，擦拭干凈一 切污物。此外，在兆歐表測(cè)試線的連接上，必須 考慮利用G端的作用來(lái)屏蔽絕緣表面漏電流的 影響，即把G端鈕連接到被測(cè)設(shè)備的保護(hù)遮蔽部 分，或其他不參加測(cè)試的部分。例如測(cè)試電力電 纜時(shí)， L端鈕連接電纜芯線導(dǎo)體，E端鈕 連接電纜的金屬外殼，而G端鈕必須連接到芯線 絕緣層的外表面上。

1．3相關(guān)電路的影響

對(duì)被測(cè)設(shè)備及線路僅僅是停電還不夠，還應(yīng) 切除一切可能影響測(cè)試結(jié)果的電路和電器元件等。比如測(cè)試220V電力線路的絕緣電阻時(shí)，必 須將該線路的前側(cè)刀閘全部拉開(kāi)。否則，所測(cè)線 路的絕緣電阻將是包括若干分支電路在內(nèi)的復(fù) 雜成分，根據(jù)無(wú)法進(jìn)行區(qū)分和判別，也就失去了 測(cè)試的意義。

2測(cè)試環(huán)境的影響因素

2．1溫度的影響

溫度的影響包括兩個(gè)方面，一是測(cè)試過(guò)程中 環(huán)境溫度的變化對(duì)測(cè)試值的影響；二是測(cè)試時(shí)的 環(huán)境溫度與被測(cè)設(shè)備規(guī)定的試驗(yàn)溫度之間的差 距對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。絕緣材料(電介質(zhì))的電 導(dǎo)與溫度之間有著密切的關(guān)系。溫度越高，離子 的熱運(yùn)動(dòng)越劇烈，就越容易改變?cè)仁苁`的狀 態(tài)。因而在電場(chǎng)作用下做定向移動(dòng)的離子數(shù)量和 速度都要增加，即電導(dǎo)隨溫度升高而增大，電導(dǎo) 增大的規(guī)律近似于指數(shù)規(guī)律。當(dāng)溫度為t℃時(shí)的 電導(dǎo)率γ_t和電阻率P_t分別為：

式中：γ₂₀、ρ₂₀分別為20℃時(shí)的電導(dǎo)率和電阻率；α為絕緣材料的溫度系數(shù)。

電導(dǎo)增大會(huì)造成絕緣電阻下降，電氣設(shè)備的 絕緣性能必然降低，主要電氣技術(shù)指標(biāo)隨之變 劣，所以許多電氣設(shè)備都對(duì)工作溫度做了嚴(yán)格的 限制；當(dāng)溫度降低時(shí)，絕緣材料的絕緣電阻值通 常會(huì)增大。因此，必須注意測(cè)試環(huán)境溫度的變化 情況，以及測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)溫度與被測(cè)設(shè)備規(guī)定的試驗(yàn) 溫度之間的差距，應(yīng)根據(jù)技術(shù)規(guī)程和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)對(duì) 測(cè)試值進(jìn)行分析比較，有必要的話，還應(yīng)把測(cè)試 數(shù)據(jù)換算到規(guī)定的試驗(yàn)溫度，通過(guò)全面的縱橫向 比較，分析絕緣的老化、污染或受潮程度，對(duì)被測(cè) 設(shè)備的絕緣性能做出準(zhǔn)確的判斷。

2．2濕度的影響

因?yàn)樵跍y(cè)試之前已經(jīng)對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行過(guò)清 污除垢，所以這里所說(shuō)的濕度影響主要是指測(cè)試 過(guò)程中被測(cè)設(shè)備濕度的變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。 這種濕度的變化，主要是由于測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)濕度發(fā)生 變化所引起的，主要因素是蒸汽、霧氣、潮濕的空 氣等，也不排除被測(cè)物內(nèi)部存在或浸出的水氣。 絕緣物的表面會(huì)吸收潮氣形成水膜，致使其表面電導(dǎo)電流增加，導(dǎo)致絕緣電阻明顯下降。更有甚 者，是那些具有毛細(xì)管作用的絕緣材料，它們會(huì) 吸收較多的水分，使電導(dǎo)增加，導(dǎo)致絕緣材料的 表面絕緣電阻和體積絕緣電阻均顯著下降，結(jié)果 造成絕緣材料的絕緣性能顯著降低。

為克服濕度變化對(duì)絕緣電阻測(cè)試的影響，首 先應(yīng)當(dāng)改善測(cè)試環(huán)境的工作條件，抑制濕度波動(dòng) 的因素；其次是揩拭干凈被測(cè)設(shè)備有關(guān)部位的水 氣和臟物，再者就是采用兆歐表的G端鈕來(lái)屏蔽 被測(cè)部位的表面電流，即把G端鈕接到被測(cè)設(shè)備 的保護(hù)遮蔽部分，或其他不參加測(cè)試的部分。

2．3電磁干擾的影響

電磁干擾是指被測(cè)設(shè)備和測(cè)試儀表在內(nèi)的 測(cè)試環(huán)境中存在具有電磁輻射性質(zhì)的干擾源，如 通過(guò)有大電流的導(dǎo)體及其他裝置，具有電磁輻射 的高、中、低頻線路或裝置，脈沖電信號(hào)裝置，雷 電波、較強(qiáng)的電磁波等。上述干擾源均可通過(guò)感 應(yīng)或傳導(dǎo)的方式作用于被測(cè)設(shè)備和測(cè)試儀表，影 響測(cè)試數(shù)據(jù)，降低測(cè)試結(jié)果的置信度。

為克服電磁干擾的影響，必須切斷干擾的途 徑，避開(kāi)干擾的作用范圍，或停止干擾源的活動(dòng)。 當(dāng)測(cè)試場(chǎng)所周?chē)l(fā)生雷電現(xiàn)象時(shí)，必須立即停止 測(cè)試工作，拆下儀表并撤離人員，以防雷擊事故 的發(fā)生。

3測(cè)試方法的影響因素

3．1 操作方法對(duì)測(cè)試的影響

用兆歐表測(cè)試絕緣電阻時(shí)，必須由兩人進(jìn)行 操作。其中一人帶絕緣手套、持絕緣桿負(fù)責(zé)搭線 工作。即把L端子測(cè)試線與被測(cè)設(shè)備的測(cè)試點(diǎn) 適時(shí)地接通及斷開(kāi)；另一人負(fù)責(zé)搖表與讀數(shù)。搖 測(cè)時(shí)，應(yīng)把兆歐表放置于水平穩(wěn)固之處，左手扶 住表身，右手轉(zhuǎn)動(dòng)搖柄，轉(zhuǎn)速由慢逐漸加快升高 至額定速度(約120r／min)，轉(zhuǎn)速應(yīng)盡可能地均勻 穩(wěn)定，嚴(yán)禁忽快忽慢，以防表針左右搖擺。讀取 數(shù)據(jù)時(shí)，眼睛要正視表針和刻度盤(pán)，使眼睛、表針 和刻度值三點(diǎn)呈一條垂直于刻度盤(pán)的直線，避免 斜視讀數(shù)而增大人為誤差。

3．2測(cè)試線及使用方法對(duì)測(cè)試的影響

兆歐表的測(cè)試線要選用滿足耐壓要求的單 根絕緣銅線，不得使用雙股絞合線或平行線。線 的長(zhǎng)度依據(jù)測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)情況而定，原則上宜短不宜長(zhǎng)。兩根線應(yīng)單獨(dú)分開(kāi)接線，不得相碰或絞纏在 一起。測(cè)試線最好是凌空擺放，或由高絕緣性能 的材料作為支撐，尤其是對(duì)于絕緣性能要求較高 的電氣設(shè)備，禁止搭放在被測(cè)設(shè)備上、金屬物體 上，或拖置于地面上，人手和身體的其他部位也 不得接觸測(cè)試線及被測(cè)設(shè)備的有關(guān)部位，防止測(cè) 試線與金屬、地面、人體等導(dǎo)電性物體的耦合與 泄漏作用而造成測(cè)試結(jié)果嚴(yán)重背離真實(shí)值。

3．3測(cè)試時(shí)間的影響

當(dāng)絕緣材料加上電壓之后，流經(jīng)絕緣體內(nèi)部 的電流主要有：泄漏電流，其是絕緣材料中的自 由離子及混入的導(dǎo)電雜質(zhì)所產(chǎn)生的，通常與電壓 施加時(shí)間無(wú)關(guān)；電容電流，按指數(shù)規(guī)律隨時(shí)間很 快地衰減，一般在數(shù)毫秒時(shí)間內(nèi)接近消失；不可 逆吸收電流，因絕緣材料中的電解電導(dǎo)而產(chǎn)生， 經(jīng)數(shù)秒后衰減至零；可吸收電流，是指絕緣材料 的位移電流，在施加電壓的瞬間達(dá)到最大值，然 后趨向位移穩(wěn)定，經(jīng)數(shù)分鐘后趨于消失。上述電 流的衰變特性決定了測(cè)試絕緣電阻的非即刻性， 所以在實(shí)際測(cè)試工作中，測(cè)得的絕緣電阻值往往 隨著測(cè)試時(shí)間的長(zhǎng)短而出現(xiàn)差異，如果是電容性 較大的電氣設(shè)備，這種差異將更大，也更復(fù)雜。

為克服測(cè)試時(shí)間對(duì)測(cè)試準(zhǔn)確度的影響，要求 搖測(cè)至兆歐表指針指示穩(wěn)定或數(shù)字顯示值基本穩(wěn) 定不變時(shí)方可記取讀數(shù)，通常規(guī)定的搖測(cè)時(shí)間為一 分鐘，若是電容性較大的設(shè)備或測(cè)試環(huán)境不利、測(cè) 試條件不佳，還可以適當(dāng)延長(zhǎng)搖測(cè)的時(shí)間，而且必 須重復(fù)測(cè)試兩次以上。

每次搖測(cè)后，必須對(duì)被測(cè)設(shè) 備充分放電，以消除殘余電荷對(duì)測(cè)試的影響。

4兆歐表本身的影響因素

4．1 兆歐表必須保持完好

兆歐表在使用前應(yīng)檢查各主要部分的完好 性；將L、E兩個(gè)端子開(kāi)路，通過(guò)開(kāi)路試驗(yàn)檢查兆 歐表的滿度情況；將L、E兩端子短接，通過(guò)短路 試驗(yàn)檢查兆歐表零點(diǎn)的準(zhǔn)確性(電子表兆歐表不 宜做短路試驗(yàn))；對(duì)于電子式兆歐表，要按照操作 規(guī)定檢查電池的電量是否充足。

4．2兆歐表電壓等級(jí)的影響

應(yīng)按照被測(cè)設(shè)備的額定電壓等級(jí)正確選用 適當(dāng)電壓等級(jí)的兆歐表，換言之，兆歐表的額定電壓應(yīng)與被測(cè)電氣設(shè)備或電力線路的工作電壓 相適應(yīng)，不能用電壓過(guò)高的兆歐表測(cè)量低壓電氣 設(shè)備的絕緣電阻，如果兆歐表的測(cè)試電壓超過(guò)了 被測(cè)設(shè)備絕緣的承受能力，必將損壞被測(cè)設(shè)備的 絕緣；相反，如果兆歐表的額定電壓選得太低，測(cè) 試結(jié)果不能真實(shí)反映被測(cè)設(shè)備在應(yīng)有電壓下的 絕緣狀況，則測(cè)試值將虛假地偏大。

4．3兆歐表限的影響

兆歐表的量限應(yīng)按被測(cè)設(shè)備絕緣電阻合格 值來(lái)選取，應(yīng)使測(cè)得值落在兆歐表的測(cè)量范圍之 內(nèi)且比較靠近中部的區(qū)段，避免落在刻度尺的兩 端附近，因?yàn)樵趦啥烁浇x數(shù)時(shí)相當(dāng)困難，很難 準(zhǔn)確分辨示值，也就無(wú)法保證測(cè)試值的準(zhǔn)確度。

4．4兆歐表準(zhǔn)確度的影響

常用兆歐表的準(zhǔn)確度有1．0級(jí)、1．5級(jí)、2．0 級(jí)和2．5級(jí)共四個(gè)等級(jí)，應(yīng)根據(jù)被測(cè)設(shè)備的重要 程度和對(duì)測(cè)得值的要求高低來(lái)選用適當(dāng)準(zhǔn)確度 的兆歐表。

4．5 兆歐表輸出短路電流特性的影響

兆歐表輸出短路電流的大小可反映出該兆 歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小，對(duì)于各種不同 類(lèi)型的電氣設(shè)備來(lái)說(shuō)，對(duì)于兆歐表輸出短路電流 應(yīng)適當(dāng)選擇，否則將影響測(cè)試結(jié)果。為保障準(zhǔn)確 測(cè)得R15s和R60s值，應(yīng)選用充電速度快的大容量兆歐表。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求兆歐表輸出短 路電流應(yīng)大于0．5mA、lmA、2mA、5mA，對(duì)于要求 高的場(chǎng)合和容性較大的設(shè)備，應(yīng)盡量選用輸出短 路電流較大的兆歐表。