JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡   JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發的球差校正器，高加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

• 實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

• JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器，高加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

• STEM-HAADF像的保證分辨率達到了58pm

• 采用JEOL自主研發的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達58pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。

• ETA校正器 JEOL自主研發的12極球差校正器　※選配件

• ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

• 強大的冷場發射電子槍HyperCF300

• 標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

• 兩種物鏡極靴

• 為了支持用戶廣泛的需求，研發了兩種各具特點的物鏡極靴。

• 豐富的選購件

• 能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

• 大范圍的加速電壓設置

• 標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。

• 新開發的真空系統

• 新的排氣系統達到了極的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

• 高穩定的鏡筒和樣品臺

• 整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上，把電氣穩定性和對環境的抗力提高到新高度。