ATX200N氧化膜測厚儀概況
ATX200N氧化膜測厚儀配置嵌入式傳感器,采用電渦流法,可用于無損測量非磁性基體上非導電涂層厚度,符合以下工業規范和標準: GB/T 4957非磁基體上非導電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法, JB/T 8393磁性和渦流式覆層厚度測量儀 DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、穩定,簡單、可靠、可用于現場快速測量等特點,配置集成測量探頭,可無損、快速、精密地進行非磁性金屬表面非導電涂層厚度測量,易于操作,廣泛應用于工業、船舶、橋梁、航空、工程、化工等領域。
ATX200N涂層測厚儀原理
ATX200N氧化膜測厚儀的工作原理是當測頭靠近金屬基體時,由于高頻交變電流在線圈中產生了電磁場,金屬基體會形成電渦流并對線圈產生反饋,隨后通過測量反饋量的大小可推導出相對應的厚度值。
測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
ATX200N氧化膜測厚儀儀技術參數
l 測量范圍:0-1250um(0-50mil)
l 分辨率:0-999um;0.1um ≥1000um;1um
l 精度:≤100um;±2um 101-1250um;≤2.5%
l 數據存儲:500 條
l 顯示:帶背光點陣液晶屏(128X64)
l 電源:1.5VX3(AAA 干電池)
l 使用溫度:0-50°C
l 規格:128X51X31 mm
l 重量:110g
ATX200N氧化膜測厚儀基本配置
l 涂層測厚儀 | 1臺 |
l 標準厚度片 | 5片 |
l 校準基體 | 1個 |
l AAA1.5V 堿性電池 | 3節 |
l 隨機文件 | 1套 |