設備介紹
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電子光學系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質量、易用性和靈活性。蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內容可以使您進一步了解Gemini電子光學系統的三大設計,探索蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM的應用潛能。
儀器型號
蔡司GeminiSEM 300
技術參數
- 加速電壓0.02-30 kV
- 探針電流3pA~20nA
- 分辨率1.0nm @30kV STEM
- 低真空范圍2-133Pa
案例展示
應用范圍
場發射掃描電子顯微鏡GeminiSEM廣泛應用于納米技術,半導體及電子產品,碳材料,生物及制藥、納米材料、新能源。