快速溫度變化試驗箱 JW-TH-1000-10
10℃/min快速溫度變化試驗箱，15℃/min快速溫度變化試驗箱，20℃/min快速溫度變化試驗箱，30℃/min快速溫度變化試驗箱，60℃/min快速溫度變化試驗箱
浙江巨為快速溫度變化試驗箱 主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。 | 1. 產品 | | 本公司擁有多位業(yè)界設計工程師，同歐洲技術合作多年的經驗，故而產品具有節(jié)能.外型整潔.美觀.性能穩(wěn)定，可靠性高等。 企業(yè)的服務具人性化: 其一：距客戶端以200公里范圍內（以4小時車程算）設有制造工廠及技術中心，確保了解售前.售中.售后.服務的快速性及合理性； 其二：以零收費.終身制服務模式作為企業(yè)文化，并認真貫徹執(zhí)行；
公司產品已在得到廣泛認同，與眾多前500強企業(yè)基本結為良好的合作關系，如 SANYO. SONY. CANON. PHILIPS. OKI. EPSON. PANASONIC. SAMSUNG. SIEMENS. NOKIA. ASUS. DELTA. MBALIB. HITACHI. ENET等；有北京電子部十一所 .北京科研院.北京空三所北京電子部十二所.航天部239廠.郵電部機檢測中心（北京）.航天技術進出口公司.中科院廣州能源研究所.石家莊電子十三所 .天津712廠.廠. 人民6916廠（河北） .武漢凡谷電子技術研究所.鄭州郵電部設計院等。 | |
2. 試樣說明
| | 本試驗設備禁止： 易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質試樣的試驗及儲存 腐蝕性物質試樣的試驗及儲存 生物試樣的試驗或儲存 強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存 | | 3. 容積和尺寸 | | 標稱內容積 內箱尺寸 外型尺寸 | 1000L W 1000×H 1000×D 1000 mm
W 1620×H 2050×D 1770 mm | | 4. 性能 | | 4.1. 測試環(huán)境條件
4.2. 測試方法 | 設備四周氣流暢通，無高濃度粉塵，無腐蝕性或易燃易爆性氣體
環(huán)境溫度為5～35℃
相對濕度≤85%RH
循環(huán)冷卻水溫≤30℃
循環(huán)冷卻水供水壓力為0.25～0.4MPa（風冷設備無此要求）
溫度變化速率符合相關標準 | | 4.2.1溫度范圍 | -70℃～+180℃ | | 4.2.2溫度波動度 | ≤ ±0.5℃ 空載條件下，設備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點溫度隨時間的變化量，實測zui高溫度與zui低溫度之差的一半，以“±”表示，即溫度波動度℃。 | | 4.2.3溫度均勻度 | ≤ 2℃ 空載條件下，設備達到穩(wěn)定后，每次測試中實測zui高溫度與zui低溫度之差的算術平均值，即溫度均勻度。 | | 4.2.4溫度偏差 | ≤ ±2.0℃ 空載條件下，設備中心點在規(guī)定時間內測量的平均值與設備顯示溫度平均值之差，即溫度偏差。 | | 4.2.5溫度變化速率 | 升溫速率: -40℃ ~ +85℃ ≤6.25 min 升溫平均：20℃/min 降溫速率: +85℃ ~ -40℃ ≤6.25 min 降溫平均：20℃/min | | 4.2.6濕度范圍 | 濕度范圍：30～90%RH （+25℃~+85℃） | | 4.2.7相對濕度偏差 | ±2.5% R.H （≤75%R.H時濕度偏差：±5% R.H） | 參考型號
| 型號 | JW-TH-80-60 | JW-TH-150-30 | JW-T-225-20 | JW-TH-408-15 | JW-TH-1000-10 | | 容積(L) | 80 | 150 | 225 | 408 | 1000 | | 內尺寸cm(W*H*D) | 40×50×40 | 50×60×50 | 50×75×60 | 100×100×800 | 100×100×100 | | 溫度范圍 | -70℃～+150℃ | | ：；
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