名稱:X熒光光譜儀
型號:F9500
測量元素:金Au、銀Ag、鉑Pt、銥Ir、鋨Os、鈀Pd、銠Rh、釕Ru、銅Cu、鋅Zn、鎳Ni、鎘Cd、銦In;
分析范圍: 100ppm~99.99%;
測量時間:自適應;
元素分析:從Na~U的所有元素;
測量精度:±10ppm~0.1%;
X射線源: Mo靶的X射線光管;風冷();
攝像頭:高清晰攝像定位系統,工作可靠,效率高;
探測器:Si-pin (美國進口);
分辨率:145Kev ± 5; 高壓器:0~50Kv;
軟件:菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算;
軟件除能顯示金屬百分比純度外,亦可顯示黃金K值;
軟件可自動重復檢測,自動測算多次檢測的均值.
鍍層測量:鍍層厚度范圍<30um;
溫度:-11~46℃;
電壓:100~127V或220~240V,50/60Hz;
Z大功率:128W;
操作系統: Windows2000/Me/XP;
重量:32公斤
尺寸:450*650*350mm;
詳細配置:單樣品腔、放大電路 、高低壓電源
X光管、探測器、高清晰攝像頭、計算機(可選)、打印機(可選)、穩壓電源(可選)