TEK泰克TDS8200/CSA8200示波器

TEK泰克TDS8200/CSA8200示波器

深圳佳捷倫電子儀器有限公司

陳娟：158=15566786（V同）

泰克tektronix TDS8200產品簡介

 取樣示波器的詳細資料為實現準確的結果，可以使用8200系列作為新興高速計算機和通信電接口

和光接口信號檢定和一致性測試的黃金參考標準: SATA III 2x PCI Express 基于IEEE的標準: 50 Mb/s -

12.5 Gb/s 型號帶寬 采樣速率 記錄長度通道數量 CSA8200 12.5 GHz to 70 GHz 200 kS/s （順序采樣）4kB最多8個 TDS8200 12.5 GHz to 70 GHz200 kS/s （順序采樣）4 kB最多8個查看更多詳細信息 產品資料.

主要特點和優點 DC 到 70+ GHz*1 的帶寬 業內良好的時基精度 模塊化結構，最多八條采集通道 高級抖動、噪聲和BER分析 高性能TDR/TDT *1 帶寬取決于插件模塊，在將來提供更高速度的模塊時，帶寬可能會超過70 GHz。

DSA8200采樣示波器概述

功能

優點

    最多4個真實差分通道 利用真實的差分TDR激勵信號準確地檢測非線性設備，如放大器。

高帶寬（50 GHz）時域反射儀 以12 ps 的入射級將阻抗不連續性分解至 1mm。

    光學模塊噪聲低，光學靈敏度高，擁有消光比校準功能及寬波長。 通過一個光學測試解決方案，滿足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要標準。

     IConnect? 信號完整性 利用集成的TDR和S參數測量減少由測試治具信號降級引起的測量錯誤。

     串行數據網絡分析 (SDNA) 通過一個儀器進行時域和頻域分析來降低測試成本。準確地分析信號通路以預測信號串擾和抖動，確保可靠的系統運行。

     串行數據鏈路分析 (SDLA) 通過抖動、噪聲和BER分析確定眼閉的準確原因。通過快速評估各種FE/DFE均衡設置充分化接收器的眼睜時間。

      遠程采樣頭 通過將TDR頭接近被測試設備來優化信號保真度和最小化探頭、電纜及測試治具的影響。TDS7104 泰克TDS7104示波器

品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。

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