BC3193半導體分立器件測試系統
測試對象 測試參數
二極管及整流橋 BVR、IR、VF、VZ、RZ
三極管 BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、 ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅 BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VT
場效應管 BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVDGS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、
IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、 VP、VGS(off) 等
測試原理符合《GJB 128 半導體分立器件試驗方法》、《GJB 33A-97 半導體分立器件總規范》《SJ/Z 9014 半導體器件 分立器件》、《SJ 2215.1-82 半導體光耦器測試方法》等相應的國家標準、國家重要部門標準。
系統的人機界面有好,編程容易,軟件能對用戶輸入的數據進行自動查錯。系統軟件可進行器件參數的分檔、分類編程,并可實時顯示和記錄分檔、分類測試結果,測試結果和統計結果均可以 EXCEL 格式存貯于計算機中,根據需要可以打印輸出。
系統為模塊化、開放式結構,具有升級擴展潛能。