NANOVEA 3D輪廓儀-科研專用

:產品簡介:

美國 NANOVEA 公司是一家的在微納米尺度上的光學表面形貌測測量技術的，生產的三維非接觸式表面形貌儀是目前國際上用在科學研究和 工業領域表面輪廓測量設備之一，采用目前國際最前端的白光軸向色差原 理(性能優于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀)對樣品表面進行快速、重復性高、高分辨率的測試分析，通過專業的三維分析軟件可得到樣品表面的任意參數， 例如:二維高度曲線分布圖，二維等高線分布圖，三維表面形貌圖、孔的深度， 孔的寬度，孔的面積，孔的體積，臺階高度、一維線粗糙度參數、二維線粗糙度 參數，樣品的波紋度、功率譜密度，表面高度分層統計，自相關統計等表面參數的測量。

◎ 利用白光點光源，光線穿過透鏡后產生色差，不同波長的光分開后入射到被測樣品上。

◎ 根據準共聚焦原理，探測器系統只能接收到被測物體上單點反射回來的 特定波長的光，從而得到這個點距離透鏡的垂直距離。

◎ 這個點為點光源與傳感器所在的直線的中垂線與樣品的交點。

◎ 再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標，即 X-Z 坐標

◎ 最后以 S 路徑獲得物體??個點的三維 X-Y-Z 坐標

◎  最后將采集的三維坐標數據交給專業的三維處理軟件進行各種表面參數的分析

◎  軟件能夠自動獲取用戶關心的表面形貌參數。

第四:三維專業軟件分析

1、 可創建任意區域的 2D 曲線圖或 2D 等高線分布圖;

2、 可創建任意區域的 3D 圖;

3、 自動得到樣品的一維線粗糙度參數(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku);

4、 自動得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);

5、 可得到樣品的平整度，波紋度等參數;

6、 自動校準功能，例如粗糙度，一般情況下對于曲面樣品，首先展平，然后自動給出粗糙度的參數;

7、 具有尺寸測??:長度，寬度，角度，深度 

8、 可測孔洞磨損面積，磨損體積等參數; 

9、 利用計算機遠程控制;

10、  具有功率譜密度測試功能;

11、  具有分形統計功能;

12、  多種格式的圖與數據輸出。