對于半導體器件研發人員和設計人員來說,全面、精確的了解功率器件在各種條件下的性能表現是很重要的,功率器件將最終決定電子電路的功率損耗,因此,深入了解功率器件的特征,對于開發可靠和節能產品非常關鍵。
PST6747A半導體測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器,為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。
PST6747A半導體測試系統能在 3kV(可擴展為 10kV)和 2200A 的條件下實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。PST6747A具有快脈沖能力,以及fA電流檢測能力,并具有優異的寬電壓和電流測量能力。
這些功能能夠對的器件(例如IGBT)和新型材料(GaN和SiC)進行測量。
PST6747A由多個獨立的高精度源組成,包括P6701B(3kV高壓高精度源)、P6703B(高精度源)和 P6705A(2200A大電流源)等。
每個功率源模塊上配備兩個獨立的模數(AD)轉換器,支持 2μs 采樣率, 每個模塊上的驅動能夠獨立精確控制,對有可能影響器件特性的關鍵計時進行精確監測。
對于測量功率器件和電源電路,該儀器更便于使用,有更好的數據分析能力,同時北京博電自主研發軟件簡化測量數據管理,能夠依據用戶的需求進行定制,為用戶提供更好的使用體驗。