測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到個回波之間的時間間隔。 |
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自動回波到回波(可選) | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。 | |
穿透涂層測量 (可選) | 利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭) | |
單晶探頭測量模式(可選) | 模式1:激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。 模式2:延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 模式3:在激勵脈沖之后,位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。 | |
厚度范圍 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量的范圍需要使用單晶選項) | |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) | |
分辨率(可選擇) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸) | |
探頭頻率范圍 | 標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) | |
一般規格 | 操作溫度范圍 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
鍵盤 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋 | |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 | |
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
電源 | 3節AA電池/USB電源供應 | |
電池工作時間 | 3節AA堿性電池:20到21小時 3節AA鎳氫電池:22到23小時 3節AA鋰離子電池:35到36小時 | |
標準 | 設計符合EN15317標準 | |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波(波形選項) | |
輸入/輸出 | USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | 容量:2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
內置數據記錄器(可選) | 數據記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調用、清除及傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數,或20000個帶厚度值的波形 | |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名,20位字符的字母數字位碼 | |
文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 | |
報告 | 機載報告總結了數據統計和最小值/值 |
標準配置
- 45MG數字式超聲測厚儀
- AA堿性電池
- 2階試塊和耦合劑
- USB線纜
- 用戶手冊,存于CD盤上
- 測量功能:最小值/值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
軟件選項
- 45MG-SE (U8147022):單晶選項,使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭
- 45MG-HP (U8147023):單晶高穿透選項,使用頻率范圍為0.5 MHz~30 MHz的單晶探頭
- 45MG-EETC (U8147021):回波到回波和穿透涂層
- 45MG-WF (U8147019):波形選項
- 45MG-DL (U8147020):內置數據記錄器,包含GageView接口程序
選購附件
- MICROSSD-ADP-2GB (U8779307): 2 GB外置microSD存儲卡
- 45MG-RPC (U8779676): 帶支架的橡膠保護套
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波 測厚儀使用多個底面回波,顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度:
| 穿透涂層技術
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顯示A掃描的自動回波到回波模式 | 顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項未被激活) |
調整個回波空白的手動回波到回波模式 | 顯示可選波形的穿透涂層模式 |
單晶軟件選項用戶使用單晶軟件選項,可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的十分精確的厚度測量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
| 單晶高穿透軟件選項用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。
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可選數據記錄器和PC機接口
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數和波形數據。數據記錄器選項包含GageView接口程序。 數據記錄器選項
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GageView接口程序
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帶有波形調整功能的實時A掃描
用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數,對增益和空白設置進行手動調整,以在具有挑戰性的應用中很大限度地增強測量性能。這個十分有益的選項包含手動增益調整、擴展空白、回波空白、范圍及延遲參數。
45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創新型儀器,可用于幾乎所有測厚應用。
使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
使用單晶探頭對工件進行精確測量
標準功能45MG儀器在使用基本配置時,是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀,操作人員經過十分基本的培訓,就可完成十分常用的測厚應用。不過,45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后,就會變成一款很高級的測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外,大多數選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買。
| 可選功能只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業領域中用途十分廣泛的測厚儀行列。
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抵御惡劣環境的能力
| 室內顯示設置,可選A掃描模式 |
簡便操作的設計理念
| 室外顯示設置,可選A掃描模式 |