提供全聚焦方式（TFM）功能的OmniScan X3相控陣探傷

新一代OmniScan帶給您更美好的體驗

OmniScan X3儀器的軟件性能強大，其簡潔、現代的菜單結構減少了按鍵的次數，改進了從開始設置到制作報告的整個檢測過程，因此無論新老用戶都會得心應手地使用這款儀器。

實時全聚焦方式（TFM）包絡處理

儀器的包絡處理功能，可以為缺陷生成高清全聚焦方式（TFM）圖像。圖中的缺陷在背景噪聲的襯托下，顯得更為清晰鮮明。

屏幕上多可顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，有助于缺陷的解讀和定量

在同一個檢測中使用不同的全聚焦方式（TFM）模式（聲波組），使檢測人員更有希望探測到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以多同時顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來自每種模式的響應和特征，如：端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面，可被綜合在一起進行分析，從而可以確認缺陷的類型，并提高缺陷定量的性能。

提前確認覆蓋區域

聲學影響圖（AIM）工具可以基于用戶的全聚焦方式（TFM）模式、探頭、設置和模擬反射體，即刻提供靈敏度的可視化模型。

聲學影響圖（AIM）工具消除了掃查計劃創建過程中的猜測因素，因為屏幕上會顯示某個聲波組（TFM模式）的效果圖，使用戶看到靈敏度消失的位置，并對掃查計劃進行相應的調整。

屏幕上顯示有全聚焦方式（TFM）區域的相控陣超聲檢測探傷儀

相控陣超聲探傷儀提供機載掃查計劃創建功能

迅速地投入到檢測工作中

機載掃查計劃工具有助于用戶在開始檢測之前觀察到檢測圖像。

• 在一個簡單的工作流程中創建包含全聚焦方式（TFM）區域在內的整個掃查計劃
• 同時配置多個探頭和聲波組
• 改進的校準功能和設置驗證工具

看似熟悉、實有提升的OmniScan操作體驗

OmniScan X3探傷儀雖然保留了OmniScan儀器熟為人知的界面，但卻減少了設置和分析所需的步驟。因此擁有OmniScan X2的用戶可以快速方便地過渡到OmniScan X3的使用，而新的用戶則可以借助OmniScan X3輕松地學習檢測知識。

改進的快速校準

OmniScan X3校準菜單可以高速跟蹤信號。檢測人員可以在幾分鐘之內簡單輕松地完成多組校準。

檢測人員正在使用手提電腦上的相控陣檢測軟件

利用PC機的強大功能

OmniPC軟件為用戶提供一套高級工具，如：并排顯示視圖的功能，這種視圖可使用戶在屏幕上比較兩個文件，從而在分析數據時更加充分地利用PC機的性能。

• 將數據方便地導出到USB存儲盤
• 觀察焊縫左右兩側的圖像
• 在同一個屏幕上將當前和以前捕獲的檢測數據放在一起進行比較

改進的相控陣技術

• 速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍（脈沖重復頻率）
• 單獨的衍射時差（TOFD）菜單，加快了工作流程
• 改進的快速相控陣校準，使用戶享有更輕松的操作體驗
• 800%的高波幅范圍，減少了重新掃查的需要
• 機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能，加速了創建設置的過程

迅速地投入到檢測工作中

機載掃查計劃、改進的快速校準和簡化的用戶界面，有助于省去一些不必要的步驟，從而可使用戶在很短的時間內完成檢測的設置工作。

如果您是OmniScan MX2儀器的用戶，您可以從現有的儀器迅速地過渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測或全聚焦方式（TFM），您可以通過OmniScan X3探傷儀輕松地學習這些知識。

檢測團隊中的主力成員

OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測工作。這些功能可以在以下應用中大顯身手：焊縫檢測、管線和管道的檢測、耐腐蝕合金的檢測、腐蝕成像、高溫氫致缺陷（HTHA）的檢測、初期裂紋的探測、復合材料的檢測和缺陷成像。

• 與現有的探頭和掃查器相兼容
• 32:128PR型號，提供64晶片的全聚焦方式（TFM）功能
• 還提供16:64PR和16:128PR型號
• 多8個聲束組，1024個聚焦法則
• 與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容，方便了用戶轉換到新儀器的操作
• 64 GB的內置存儲容量，還可以借助外置USB驅動盤擴展存儲容量