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的瞬態光電導技術
QSSPC技術對于監測多晶硅硅片，摻雜劑的擴散，和低壽命樣本是理想的技術。這種方法補充了瞬態光電導技術的運用。瞬態光電導技術在這臺設備上也是標準的。
QSSPC壽命測量
QSSPC壽命測量也產生隱含的開路電壓（與lllumination)曲線，這可以與an1-v曲線在太陽能電池過程的各個階段進行比較。
優秀的軟件數據處理系統
Sinton設備的分析能為每個晶片產生校準載流子注入水平，所以你可以以一個物理上的方式解讀壽命數據。每次測量都會顯示和記錄特定的參數。
WCT系統功能
單擊即可鎖定晶硅片的關鍵參數，包括方塊電阻、少子壽命、陷阱密度、發射極飽和電流密度和暗電壓
?制造過程的逐步監測和優化
?監測初始材料質量
?晶片加工過程中檢測重金屬雜質
?評估表面鈍化和發射極摻雜擴散
?使用隱含V測量評估過程引起的分流
