TH9520集成化磁性元件分析儀

TH9520/A綜合分析系統在單機內實現交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、匝間絕緣測試、直流低電阻、電感量(TH9520A選配)測試六大功能。針對線圈類元器件需要的測試項目如安規耐壓、匝間絕緣、繞線電阻值、線圈電感量(TH9520A選配)，以前需要四臺不同儀器分別進行測試，現在在單機內即可實現。憑借同惠電子豐富的元器件分析技術，TH9520/A帶來的不僅僅是四臺普通儀器的簡單疊加：500VA/200VA功率AC設計，5kV AC/6kV DC輸出高壓，絕緣電阻電壓提高至5kV(TH9520)，匝間絕緣測試電壓提高至6kV(TH9520)，新型高壓測試夾具實現四端直流低電阻和測試頻率至100kHz的電感量測試，新技術的實現給您的產品帶來更好的。單機配備八通道掃描接口，每個通道可設置為、低端、關閉三種狀態，可實現最多八組器件的測試，滿足用戶的應用需求。TH9520/A簡捷易用的操作界面，醒目的分選結果指示，完善的高壓保護，豐富的接口功能，方便的的數據傳輸和數據保存功能，將簡化您的測試流程，極大的提高產品測試效率。

技術參數及配件

功能特點

500VA/200VA(TH9520A)數字化大功率耐壓測試

與模擬安規測試原理相比數字化耐壓測試輸出高壓不受市電影響，電壓品質大為提高，同時可以數字顯示實時的測試電壓，達到更精準的測量與顯示。而且輸出電壓采用自適應反饋控制，使得輸出負載的變化不會造成輸出電壓的變化。

觸電保護功能

當操作人員與高壓輸出端接觸時，儀器會監測流經人體的電流是否過高，若判定為觸電，儀器會立即切斷輸出，保障用戶的安全。

開短路偵測功能（OSC）

在耐壓測試過程中由于被測件與測試線接觸不良、測試線損壞等，會發生開路現象，導致不良品誤判為良品；被測件損壞或者被測端間距太小導致測試線短路現象。

使用OCS功能，TH9520/A可預先偵知測試端開短路情況，減少產線接觸不良的問題發生,保護治具設備，節省測試成本。

電弧偵測功能（ARC）

耐壓不良是指在耐壓測試中有電氣閃絡或絕緣破壞發生。現在耐壓絕緣測試已經成為各類電器設備和絕緣材料安全測試的標準配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能解決產品安全問題,另一類現象,電弧放電ARC在耐壓測試中越來越得到重視,放電與絕緣能力之間具有的相關性，所以ARC偵測是控制產品質量的關鍵。以下兩種情況會出現電弧放電現象：

1.當材料承受較高電壓，電場強度大于氣體的電離能時，會讓材料表面氣體發生瞬時電離現象，此時會在材料表面形成打火并對材料形成溫升現象。長期的打火和溫升可能會造成材料的質變，進而導致絕緣劣化，使得電壓耐受程度下降，最終發生絕緣失效。

2.被測件檢測點間距過小時,在被測件兩端施加較高電壓，檢測點兩端空間里的空氣會被電離，形成打火現象，也就是拉弧現象。拉弧現象產生高頻的瞬時放電，在測試過程中產生了一個高頻電流信號如圖D，電弧偵測（ARC）功能是用高頻電量量測的方式偵測，判斷出材料絕緣性能是否有不良。

線圈脈沖測試功能

本測試儀可有效地、非損壞性地對線圈繞組進行高壓脈沖測試以測試其電氣性能。其原理是對被測線圈繞組和標準線圈繞組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態波形，以判斷被測試繞組件的優劣。瞬態波形也就是線圈內發生的衰減振蕩波形，它可同時判斷該繞組的電感、品質因素Q值、繞組的圈數差、匝間層間短路，更具體地說，在有導磁材料的情況下，還可判斷其材質的差別等；高壓脈沖下電暈放電的發生還可以對繞組層間或多個繞組間絕緣不良進行判定。

圖E中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值L及品質因素Q值有著密切的關系，而L值及Q值又和線圈的圈數、制造工藝、是否空心線圈并且還與導磁材料特性又有著不可分割的關系。由于施加電壓是高壓脈沖電壓，因此，線圈短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間電暈放電現象自然很容易被發現。

直流電阻測試功能（DCR）

TH9520/A提供8通道四線直流電阻測量,對于電機及變壓器等多繞組器件提供高準確度測試，測量范圍從0.01mΩ ~1.2MΩ。

1.直流電阻平衡判定

電機繞組的直流電阻不平衡時易導致旋轉不平衡，長期使用后會造成損壞，直流電阻平衡功能是將繞組的DCR最小值相減，若超過設定值范圍即判斷為不良品，是電機類產品長期工作可靠度測試的輔助工具。

2.溫度補償功能

測量較小的直流電阻時常會遇到溫度變化引起的較大誤差，因此TH9520/A加入了溫度補償功能。經過溫度系數的轉換后將直流電阻換算為標準溫度下的等效值，從而減少了溫度變化引起的測量誤差。

3.電感測試功能

TH9520提供8通道四線電感測量,對于變壓器等多繞組器件的電感值提供高準確度測試。恒定100Ω源內阻，100kHz測量頻率能滿足絕大部分電感測試要求。

廣泛應用

電機綜合分析測試；
變壓器綜合分析測試；
電感綜合測試；
充電樁電感特性綜合分析測試；
磁性元器件綜合分析測試。