X熒光光譜儀ROHS 分析儀

產品介紹：

1.采用原裝電致冷 性能Si-PIN探測器，分辨率高，探測范圍寬，涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金（含貴金屬）及各種常規材料分析的基本要求。

2.配置 進的DPP數字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能佳，尤其在 計數率時分辨率高（如Hg和CI等），高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間變短，尤其在測量重復性和長期穩定性上有提高。

3.內置清攝像系統，清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區域。
4.配套FP測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結果趨近準確，更加接近真值水平。

能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將來自試樣的熒光X射線依次檢測，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統計脈沖數，脈沖幅度可以用X光子的能量標度，從而得到計數率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。

1、探測器：Amptek Si-PIN探測器，高速脈沖分析系統；

2、高壓電源：Spellman 50w（50kv/MA）；

3、X射線管：50w側窗鈹窗型X射線管；

4、能量分辨率：149ev；

5、元素分析范圍：硫（S）-鈾（U）；

6、測量時間：60-300S；

7、測量含量范圍：1ppm-99.9%；

8、交流220v供電設備：1KVA交流凈化穩壓電源；

9、工作溫度：10-30°C；

10、測量條件：大氣環境；