ICT33C+ 集成電路測試儀|美達

ICT33C+ 集成電路測試儀

ICT33C+ 集成電路測試儀產品特點： 

1．工作原理：
    ICT33C+集成電路測試儀是以器件預期響應法為指導思想，以單片機智能化為結構的多功能測試儀器。它以MCS51單片機為核心，配合大規模軟件和外圍擴展系統來全面模擬被測器件的綜合功能。儀器的設計基礎立足于這樣的原則：在數字集成電路眾多參數中，邏輯功能是最重要，最根本，最能說明問題的參數。

2．系統主要構成：
（1） CPU：MCS51系列產品89C52；主頻：11.059M。
（2） 程序存儲器：128K  EPROM。
（3） RAM緩沖區：128K靜態RAM。
（4） 顯示器：8位液晶顯示器。
（5） 操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。
（6） 輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
（7） 機箱：全塑結構機箱。
 

ICT33C+ 集成電路測試儀技術規格：

（1）       電源電壓：AC220V±15%，50HZ。
（2）       整機功耗：15VA。
（3）       測試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4）       編程電壓：12.5V，21V。
（5）       測試腳數：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購適配器）。
（6）       型號輸入位數：3——6位。
（7）       適用溫度：0——40℃。
（8）       測試規范：輸入短路測試；輸出短路測試；99%功能測試。
（9）       輸出高電平
VOH：大于2.8V
（VT=5.0V）。
（10）   
輸出低電平VOL：小于0.7V
（VT=5.0V）。
（11）   
輸入高電平VIH：大于4.5V
（VT=5.0V）。
（12）   
輸入低電平VIL：小于0.2V
（VT=5.0V）。
ICT33C+具有以下主要用途：
（1）       維修各類電子產品，判斷其集成電路故障。
（2）       破譯被抹去型號集成電路的真實型號。
（3）       燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內ROM。
（4）       開發各類智能電子產品，調試程序。
（5）       檢驗新購器件的質量。