武漢普賽斯儀表電容電壓特性CV曲線測試儀主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調直流電壓偏置,通過矩陣開關加載在待測件上,內置自動化CV測試軟件,包含C-V(電容-電壓),C-T(電容-時間),C-F(電容-頻率)等多項測試測試功能;
系統方案
普賽斯半導體功率器件C-V測試系統主要由源表、LCR表、矩陣開關和上位機軟件組成。LCR表支持的測量頻率范圍在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)負責提供可調直流電壓偏置,通過矩陣開關加載在待測件上。
進行C-V 測量時,通常在電容兩端施加直流偏壓,同時利用一個交流信號進行測量。一般使用的交流信號頻率在10KHz 到1MHz之間。所加載的直流偏壓用作直流電壓掃描,掃描過程中測試待測器件待測器件的交流電壓和電流,從而計算出不同電壓下的電容值。
系統優勢
- 頻率范圍寬:
頻率范圍10Hz~1MHz連續頻率點可調;
高精度、大動態范圍:提供0V~3500V偏壓范圍,精度0.1%;
內置CV測試:內置自動化CV測試軟件,包含C-V(電容-電壓),C-T(電容-時間),C-F(電容-頻率)等多項測試測試功能;
兼容IV測試:同時支持擊穿特性以及漏電流特性測試;
實時曲線繪制:軟件界面直觀展示項目測試數據及曲線,便于監控;
擴展性強:系統采用模塊化設計,可根據需求靈活搭配;
電容電壓特性CV曲線測試儀典型配置