導電鞋電阻測試儀導電鞋電阻測試儀
概述:采用四端測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門,實驗室;是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的工具。可配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示,溫度補償功能,自動量程,自動測量電阻,電阻率,電導率數據。恒流源輸出;選配:PC軟件過程數據處理和標準電阻校準儀器,薄膜按鍵操作簡單,中文或英文兩種語言界面選擇,電位差計和電流計或數字電壓表,量程為1mVˉ100mV,分辨率為0.1%,直流輸入阻抗不小250μm的半球形或半徑為50 μm~125 μm的平的圓截面。探針(帶有彈簧及外引線)之間或探針系統其他部分之間的絕緣電照至少為10°Ω.探針排列和間距,四探針應以等距離直線排列,探針閥距及針突狀況應符合GB/T 552 中的規定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=與(R; +R,)計算試樣平均直徑D與平均操針間距S之比,由表3中查出修正因子F,也可以見GB/T11073中規定的幾何修正因子。 9.4計算幾何修正因子F,見式(4)。對于薄層厚度小于3μm的試樣,選用針尖半徑為100μm250μm的半球形探針或針尖率徑為50μm~125 pm平頭探針,針尖與試樣間壓力為0.3 Nˉ0.8Ni對于薄層厚度不小于3μ的試樣,選用針尖半徑為35μm100 pm 半球形操針,針尖與試樣間壓力不大于 0.3 N.Rr=V; R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-雙刀雙撐電位選擇開關。.定。歐嬌表,能指示阻值高達10°日的漏電阻,溫度針0℃-40℃,小刻度為0.1℃。光照、高頻、需動、強電磁場及溫醒度等測試環境會影響測試結果,甲醇、99.5%,干燥氮氣。測量儀器探針系統操針為具有45"~150°角的圓罐形破化鴨振針,針實半徑分別為35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)電壓表輸入阻抗會引入測試誤差,硅片幾何形狀,表面粘污等會影響測試結果,R(TD-R_xF式中:計算每一測量位置的平均電阻R.,見式(3).試劑優級純,純水,25℃時電阻率大于2MN.cm,s=號(二[R,(TD-瓦(7D羽yt ..計算每一測量位置在所測溫度時的薄層電阻(可根據薄層電阻計算出對應的電阻率并修正到23℃,具體見表4)見式(5).用干凈涂題顆子或吸筆將試樣置于樣品臺上,試樣放置的時間應足夠長,到達熱平衡時,試樣溫度為23 ℃±1℃.接通電流,令其任一方向為正向,調節電流大小見表1測量范圍電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□電 阻:1×10-5~2×105 Ω ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω 材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式決定)直 徑:A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm, 方測試臺直接測試方式180mm×180mm, 長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm, 測量方位: 軸向、徑向均可
4-1/2 位數字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數±2 字
數控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數±2 字
所給出的某一合適值,測量并記錄所得數據,所有測試數據至少應取三位有效數字。改變電流方向,測量、記錄數據。關斷電流,搶起探針裝置,對仲裁測量,探針間距為1.59