磁光克爾效應測量系統

新一代MK8000系列高靈敏度磁光克爾系統兼具磁光克爾效應測量和磁疇觀測兩種功能,相比于其它磁性測量系統,具有可測試樣品單點的微觀磁性,方便測試磁性材料的各向異性,且可觀測到磁性材料的動態磁疇等優勢。

MK8000系列可直接獲得縱向、橫向和極向克爾的旋轉角或者橢偏率的磁滯回線，也可獲得矯頑力和飽和磁場等磁學性質。利用TTL調制一款低噪音的激光光源，用高靈敏度的光電傳感管接收光強信號，并采用鎖相放大器采集鎖頻信號，使得MK8000系列擁有低噪音、高分辨率和高穩定性。

MK8000系列還能利用磁光克爾效應測量磁疇結構。偏振光經過檢偏器后光斑的強度在光斑區域內分布不同，從而得到磁疇結構，由CCD相機記錄該偏光的變化來反映磁疇。MK8000系列磁光克爾系統是研究磁性薄膜、磁性納米結構和自旋電子學的一個理想工具。

基本功能

單點loop：縱向、橫向和極向克爾效應測試；

區域mapping：上下左右精細移動樣品，可測試樣品表面不同點的磁光克爾效應；

三百六十度旋轉樣品或磁場，可判斷材料磁化難易軸并測試各向異性；

集成高速CCD和顯微系統，可觀查材料表面形貌，加入檢偏器后還能檢測出偏振態隨著磁場變化而引起的光斑強度的分布不同，從而得到磁疇。

主要特點

TTL調制半導體激光器，光電二極管接收光強，鎖相放大器采集信號，使系統擁有的靈敏度；

所有光學器件均高度集成化，用戶只需安裝樣品并微調樣品桿，即可得到克爾信號；

集成克爾效應測量和磁疇觀測顯微鏡觀測，顯微分辨率為6um；

可以真空原位測量，并擁有多種磁場和低溫選件。

技術參數

克爾角分辨率：小于0.001度；

橢偏率分辨率：小于0.1%；

最小光斑：10微米；

磁場：2.2T（選用EM7電磁鐵）；

旋轉角度步進0.1度，上下左右位移步進10微米；

噪音：小于1%。