天星ED400渦流測厚儀的產品特點:
·ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型,儀器性能大幅度提高。
·儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
·儀器適于在生產現場、銷售現場或施工現場對產品進行快速、無損的膜厚檢查,可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
·儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
·ED400型渦流測厚儀與ED300型相比,具有如下特點:
·量程寬:ED400型的量程達到0~500μm。
·精度高:ED400型的測量精度達到2%。
·分辨率高:ED400型的分辨率達到0.1μm。
·校正簡便:只校正“0”和“50μm”兩點,即可在全量程范圍內保證設計精度。基體導電率影響小:基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時,測量 誤差不大于1~2μm。
·可靠性提高:采用高集成度、高穩定性電子器件,電路結構優化,儀器可靠性 提高。
·穩定性提高:采用*的溫度補償技術,測量值隨環境溫度的變化很小。儀器 校正一次可在生產現場*使用。
·探頭線壽命長:采用德國進口的,在德國測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命可大大延長。
·探頭芯壽命長:采用高強度磁芯材料,微調了探頭設計,探頭芯壽命可大大延長。
·探頭可互換:外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
天星ED400渦流測厚儀的技術參數:
·測量范圍:0~500μm。
·測量精度:0~50μm:±1μm;
50~500μm:±2%。
·分辨率:0~50μm:0.1μm;
50~500μm:1μm;
0~500μm:1μm(可選)。
·使用溫度:5~45℃。
·外形尺寸:150mm×80mm×30mm。
·重量:260g。
天星ED400渦流測厚儀的標準配置:
·主機 1臺。
·探頭 1支。
·基體 1塊(6063合金)。
·校正箔片 1片(約50μm,附檢測報告)。
·使用說明書 1份。
·合格證 1份。
·保修單 1份。
·手提式儀器箱 1個。
天星ED400渦流測厚儀的可選附件:
·備用探頭。
·基體。
·校正箔片(約50μm,附檢測報告)。
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