鍍層測厚儀

儀器介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現性等優點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業。

主要特點

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）

可檢測元素范圍：Ti22 – U92

可同時測定5層/15種元素

精度高、穩定性好

強大的數據統計、處理功能

測量范圍寬

NIST認證的標準片

服務及支持

技術參數

主要規格  規格描述 

X射線激發系統  垂直上照式X射線光學系統 

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 

功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標準       75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選 

裝備有安全防射線光閘 

二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 

準直器程控交換系統  zui多可同時裝配6種規格的準直器 

多種規格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等    

測量斑點尺寸  在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準直器） 

在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準直器） 

樣品室  CMI900  CMI950 

－樣品室結構  開槽式樣品室  開閉式樣品室 

－zui大樣品臺尺寸  610mm x 610mm  300mm x 300mm 

－XY軸程控移動范圍  標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規格任選  300mm x 300mm 

－Z軸程控移動高度  43.18mm  XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm 

－XYZ三軸控制方式  多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 

－樣品觀察系統  高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。 

激光自動對焦功能 

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 

計算機系統配置  IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 

分析應用軟件  操作系統：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 

－測厚范圍  可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 

－基本分析功能  采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量） 

可檢測元素范圍：Ti22 – U92 

    可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 

貴金屬檢測，如Au karat評價 

    材料和合金元素分析， 

材料鑒別和分類檢測 

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 

元素光譜定性分析 

－調整和校正功能  系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移