蔡司ZEISS METROTOM工業CT斷層掃描測量機

蔡司ZEISS METROTOM工業CT斷層掃描測量機

融合了計量學和斷層X射線攝影法,開創了不可預期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進行質量保證的場合,現在可以進行高精度和無損測量。

斷層掃描分析如同在工件內部測量:所有采集的數據可用于質量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術,例如：裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估、逆向工程應用或幾何比較一樣。

在此之前或許不能檢測，或只能通過耗費時間和成本的接口進行檢測的場合，現在斷層掃描分析可以快速明確地檢測誤差。 

蔡司ZEISS METROTOM工業CT斷層掃描測量機

重要特征

深思熟慮的設計

● 三維計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器

● 用于裝夾工件的轉臺和蔡司的運動單元

安全技術

● 全防護測量間

● 滿足了根據DN54113標準的用于結構類型許可全封閉儀器的防護射線條例

● 根據人機工程學優化的設計(上料位置)

機器技術

來自卡爾蔡司的精密運動系統；

● 自加工的精密機械組件             ● 導軌誤差補償(CAA計算機輔助誤差修正技術)

氣浮軸承轉臺：

● 蔡司原裝轉臺,配有直接驅動      ● 自產氣浮軸承

● 大載荷(中心):500N                ● 軸向誤差fa=0.1μm,徑向誤差fa=0.2μm