半導體分立器件測試儀

半導體分立器件測試儀/半導體分立測試儀（中西器材）型號:M380093-MH4庫號：M380093  

適用標準:  

《GJB128半導體分立器件試驗方法》  

《GJB33A-97半導體分立器件總規范》  

《SJ/Z9014半導體器件分立器件》  

《SJ2215.1-82半導體光耦器測試方法》  

判斷標準依據：JJF1094-2002《測量儀器特性判定》  

主要組成  

半導體分立測試儀  

主控計算機一臺  

校準工裝  

測試工裝:4款(SOD-123、SOD-323、SOT-23、SMA)  

技術參數  

半導體分立測試儀  

二極管：BVR、IR、VF、VZ、RZ  

三極管：BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT  

可控硅：BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON  

場效應管：BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP  

IGBT：BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)  

達林頓矩陣：CEX、IIN(ON)、IIN(Off)、VIN(on)、IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO  

光敏二、三極管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE  

單結晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2  

隨機資料  

1、中文版的說明書一份  

2、出廠  

3、提供實驗配件及清單  

一、產品特點:  

測試晶種覆蓋面廣、電參數測試全、速度快、有良好的重復性和一致性、具有保護系統和被測器件的能力，且具有圖示功能。測試儀由計算機操控，測試數據可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能(圖示儀功能)。系統軟件功能、使用操作簡單。系統軟件、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊技術指標  

二、測試參數:  

1:二極管  

VF、IR.BVR隨機附件  

2.穩壓(齊納)二極管  

VF、IR、BVZ  

3.晶體管  

Transistor(NPN型/PNP型)  

VBE、ICB0、LCE0、IEB0、BVCE0、BWCBO、BVEBO、hFE.VCESAT.  

VBESAT、VBEON  

4.可控硅整流器(晶閘管)  

IGT、VGT、IH、IL。VTM  

5.場效應管  

IGSSF、IGSSR、IGSSR、IGSS.VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON、gFS.BVGSS.  

6。光電耦合器  

VF。IR、CTR、ICE0、BVCE0、VCESAT  

7.三端穩壓器  

Vo、Sv.ID、IDV.及相關要求。