ARM 角分辨光譜儀

ARM 角分辨光譜儀 在以上領域的應用得益于如下幾個特點： 1  超過 60° 的角度  ARM 優選 Olympus 大 N.A. 平場復消色差物鏡，收集超過 60° 的角向輻射光譜；匹配智能算法，快速實現包括 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測量模式； 2  達 5 個維度的空間選擇  ARM 內置一個設計的可調 Aperture，可以實現 X / Y 方向開口距離調節，XY 兩維平面位置平移，及平面內 θ 方向旋轉，準確抓取 復雜形貌 的微區樣品； 3  小 0.5° 角分辨率  ARM 采用特殊優化的消色差、消相差光路，能夠將角度分辨率提升至 0.5°，顯著提升光譜分析能力； 4  1.7μm 近紅外拓展 NEW  新一代設計的 ARM 重新對角分辨光路系統進行構型，* 在近紅外波段 900~1700nm 實現角分辨光譜測量，對推動光通訊、超表面、激光雷達等領域研究具有重要價值； 5  低溫 + 磁場拓展  新一代 ARM 也拓展了對低溫和磁場環境的支持，可適配低 2.7K 低溫恒溫器 和 5T 磁場強度 超導磁體； 6  除此之外，ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接，實現包括時間分辨、空間相干性、瞬態光譜采集等功能。
      
     ARM 角分辨光譜儀 技術起源：角分辨光譜技術（Angle-resolved Spectroscopy, ARS），誕生于復旦大學，是一種 精細化的光譜技術。基于該技術而生的角分辨光譜儀具有在 不同角度下 探測材料光譜性質的能力，突破傳統光譜技術不能分辨角度的局限，是獲取光子材料色散關系，實現光學性質“全面表征”的重要且手段，在 微納光子學、低維材料、發光材料 等領域具有重要應用價值。