ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀

ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀這臺全新的ICP-MS融合多項*的創新技術，專為適應所有基體、克服一切干擾、挑戰任何納米顆粒檢測而打造。   
技術決定性能:兼具三重四極桿的強大能力與單四極桿靈活性的*結合。  
一臺幾乎無需維護的ICP-MS  
新一代無需維護或更換的射頻（RF）線圈設計，*的實現對離子牢牢控制從而實現干凈質譜分析系統的設計，使NexION2000避免了幾乎所有的維護要求。  
LumiCoilTM技術–革命性的，全新的RF線圈設計，等離子體耦合效率更高，無需水冷或氣冷，壽命更長。  
三錐接口（TripleConeInterface）–*的超錐設計，實現業界較緊湊離子束。三錐位于真空腔外，維護快速簡單。  
四極桿離子偏轉器（QuadrupoleIonDeflector）–實現離子束90度偏轉后進入通用池（UniversalCell），過濾不帶電物質，減少背景和干擾，從而實現更準確結果。  
*的三錐接口（TripleConeInterface）和四極桿離子偏轉器（QuadrupoleIonDeflector）結合，實現離子束的高效控制與聚焦，使NexION2000的碰撞反應池系統免除了所有的清洗或維護需求。

ICP-MS電感耦合等離子體質譜儀性能特點

每次分析，獲得較佳工作效率

與其他ICP-MS系統不同，NexION 2000具有電子稀釋技術（EDR）,可以讓您調諧離子傳輸，從而在一次樣品運行時，實現高低含量同時分析。這擴大您的分析動態線性范圍至12數量級，優化了您工作效率的同時保護了檢測器的使用壽命。

為獲得更好的準確性和更低的檢出限，反應池模式下的*動態帶寬調諧技術（Dynamic Bandpass Tuning）使您可以調整離子質量帶寬，高效去除干擾物母離子的同時將分析物離子的傳輸效率大化。

NexION 2000具有功能強大的針對不同干擾的工作模式，預置的分析方法讓您輕松應對各類分析挑戰。

無懼基體，表現優異

NexION 2000 強大的全基體進樣系統（AMS），無需手動稀釋，實現高固體溶解含量樣品分析。全基體進樣系統（AMS）智能稀釋您的樣品，讓您在保持分析高固體溶解含量樣品的靈活性同時仍能分析高低含量元素，減少樣品重復分析。

PerkinElmer技術專家們為NexION 2000打造的全固態、自激式射頻發生器提供更穩定的等離子體，儀器的耐受性得到進一步加強。新一代的革命性LumiCoil工作線圈技術實現高效等離子體耦合，且無需水冷或氣冷，使用壽命超長。

日常檢測更輕松

ICP-MS配備的Syngistix™軟件使得再復雜的樣品分析也變得簡單易行。本著*符合日常分析流程的設計理念，軟件操作界面非常直觀，有著從左到右、圖標化的全過程向導，將從儀器開機、方法開發到數據報告等每一步都進行了簡化。