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高溫鐵電測試儀HCTD—800
主要用途：
鐵電材料的電滯回線（動態與靜態）、漏電流等特性。
測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。
超晶格材料在方波脈沖電壓激勵下的自漏電特性。
簡介：
本測試系統用于鐵電體的鐵電性能測量，本測試系統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器＼數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。
本測試系統采用虛地模式測量電路，與傳統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和校準，并且能實現較高的測量度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。儀器采用一體化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。
組成部分：
鐵電材料參數測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發生器及正、負矩形脈沖和雙極性雙脈沖發生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關特性測量電路構成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關特性，可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為一臺通用信號發生器、高壓信號發生器使用。
高溫鐵電測試儀HCTD—800
