XRF9能量色散X射線熒光分析儀
XRF9可以無損分析塊狀固體、粉末、液體樣品,廣泛應用于質檢、電子、醫藥、食品、冶金、化工、地礦、考古等領域的研究開發和品質管理。
(注):X射線熒光(XRF)分析法是測定有初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線(X射線熒光),它是一種非破壞性分析方法,可以對試樣進行多元素快速分析。
產品特點
*的多光束可調系統
具有高分辨率的探測器
采用XYZ三維樣品臺
大型樣品分析室
CCD攝像及自動定位系統
自動調節雙層六通道濾光系統
輻射安全防護
強大功能的軟件操作系統
短時間多元素同時分析
無損分析和*的薄樣分析技術相組合
多種定量分析方法
無需液氮和水循環冷卻
種類齊全的選配標準樣品
RoHS/WEEE指令快速分析
XRF9能量色散X射線熒光分析儀 儀器
外形尺寸品室尺寸:400(L)×100(W)×100(H)mm3
主機質量:約45Kg
工作環境溫度:0~40oC
工作環境相對濕度:≤80%
元素分析范圍:AI-U
含量分析范圍:1ppm~99.99%
重復性:<5%
測量時間:一般60~300s
測量對象:塊狀物體、粉末、液體
激發功率:50W
探測器分辨率:149gev
輸入電源:AC110V/220V
高壓電源:0~50kv/0~1mA
X射線輻射劑量:≤1μSv/h
代表性元素120s低檢出限LOD(mg/kg)