ITO薄膜測厚儀

ITO薄膜是一種n型半導體材料，具有高的導電率、高的可見光透過率、高的機械硬度和良好的化學穩定性。它是液晶顯示器（LCD）、等離子顯示器（PDP）、電致發光顯示器（EL/OLED）、觸摸屏（TouchPanel）、太陽能電池以及其他電子儀表的透明電極zui常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜，在透明導電薄膜方面得到普遍的應用，具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關系到企業的生產成本控制，所以對ITO薄膜厚度的高精度測量，是企業必須重視的檢測項目之一。

Labthink蘭光研發生產的CHY-CA測厚儀，采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。設備分辨率高達0.1微米，配置的自動進樣系統，使用戶可自行設置進樣步距、測量點數和進樣速度，大大提高了薄膜厚度測試效率。

ITO薄膜測厚儀技術特征：

測試范圍：0～2mm（常規）；0～6mm；12mm（可選）

分辨率：0.1μm

測量速度：10 次/min （可調）

測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）

接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）

      注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制

進樣步距：0～1000 mm

進樣速度：0.1～99.9 mm/s

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