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[代理] 金屬質(zhì)量電阻率測試臺（SZT-H型）
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- 北京博倫經(jīng)緯科技發(fā)展有限公司
- 2017-04-11 04:12:26
- 北京市西三旗上奧世紀中1號樓2單元401
- 270
【簡單介紹】
【詳細說明】
SZT-H型金屬質(zhì)量電阻率測試臺 配以四探針儀器構(gòu)成成套測試系統(tǒng)，是運用四端子測量原理的專業(yè)測量金屬箔類（質(zhì)量）電阻率/方阻的多用途綜合測量裝置。（以下簡稱測試臺）
基本組成：測試臺測試電極組、升降臺、支架、連接線纜等部件組成。
配套與兼容：本測試臺兼容本公司所有臺式四探針測試儀器。本測試臺可兼容國內(nèi)同行絕大多數(shù)四探針電阻率/方阻測試儀器。
優(yōu)勢特征：SZT-H質(zhì)量電阻率測試臺符合國標《GB/T 5230-1995》中對金屬箔類質(zhì)量電阻率測試要求，測試電極采用銅質(zhì)刀架制成，故定位準確、游移率小、接觸良好；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、測量簡便等特點。
儀器適用于金屬薄膜材料廠、半導(dǎo)體薄膜材料廠、橡塑材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對半導(dǎo)體或金屬薄膜材料的方阻、電阻率性能的測試。特別適用于要求快速測量中低方阻及要求結(jié)果分選的場合。
二、技術(shù)參數(shù)（配ST2258A型多功能數(shù)字式四探針測試儀）
2.1 測量范圍、分辨率（有所配儀器決定）
（1）方阻測試范圍*（以配SZT-H測試臺為例）
測量膜寬：1mm≤B≤50mm
基本方阻測量值：1.0×10-6 ～1.2×103 Ω/□，分辨率：1.0×10-7 ～1.0×100 Ω/□。
具體膜寬w與測量范圍關(guān)系見圖2-1A。
（2）電阻率測試范圍（以配SZT-H測試臺為例）
（厚度d<10mm,寬w<50mm）
基本電阻率測量值： 1.0×10-6 ～ 1.2×103 Ω*cm，分辨率：1.0×10-7 ～ 1.0×100 Ω*cm。
具體截面s與測量范圍關(guān)系見圖2-1B。
2.2 SZT-H測試刀架：
⑴電壓刀片間距：150mm±0.2% ，刀刃長60mm
⑵電流刀片間距： 300mm，刀刃長60mm
⑶測試臺架外型尺寸：360×200×240（長×寬×高）
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