利用擅長于高速處理的IC 和創新的算法,在傳感器檢測頭與控制器之間進行數字傳輸,同時兼顧測量值的高速傳輸和穩定性。
產品簡介
詳細介紹
進口SUNX超高速.高精度激光位移傳感器
HiR透鏡
設計的較適合HDLC-CMOS傳感器的高分辨率透鏡。
采用本公司的光學仿真技術,將像差降低到小限度。
可將任何角度的光線在受光部以小點成像,實現了更高的精度。
*的光學配置和光圈結構,實現了發射強度接近的近似正態分布的高激光。
另外,通過在投光量調整功能中采用新的算法,可以瞬時跟蹤受光量的變化,確保投光狀態始終保持。
超高速計算處理
配備*的算法,可以在達到高精度的同時實現高速度。所有信號都經過數字化高速處理。
傳感器檢測頭
■對應「擴散反射」&「正反射」根據工件表面,在很難選定較適合的傳感器的場合。
即使是在這樣的情況下,只有一臺檢測頭情況下也可以安定的檢測狀態設置。
■受檢工件容許傾斜的范圍更寬與以往相比,對傾斜的容許度提高了1.5倍,即使測量時工件發生變動,也能輕松檢測。 [HL-C203B(-MK)の場合]
■省空間的小型檢測頭小型檢測頭,與本公司以往產品相比,體積比下降了約23%,可以將安裝空間減小到限程度。 [HL-C203B(-MK)の場合]
控制器
■可連接兩個檢測頭可在控制器內對各個測量值進行計算。
■豐富的I/O可以連接各種設備,可以通過這些設備對記錄的數據進行顯示、分析處理,以及對傳感器進行控制。
■無償提供API(Application Programming Interface)可以通過USB連接的電腦使用控制HL-C2的API。還備有樣品程序,有助于編程。
進口SUNX超高速.高精度激光位移傳感器