成像型穆勒矩陣測量系統

成像型穆勒矩陣測量系統是Hinds公司研發的一款高速高精度穆勒矩陣測量系統，在不到一秒內即可實時測得穆勒矩陣16組參數或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發的這款產品對于科研研究，工業測量，光學組件偏振特性測量，制造業生產/質檢等領域都有著廣泛應用可能。整套系統報包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學、生物、化學樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。

成像型穆勒矩陣測量系統通過使用光彈調制器和相應偏振測量技術， 150XT 型穆勒矩陣橢偏儀在不到一秒內即可實時測得穆勒矩陣16組參數或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發的這款高速高精度穆勒矩陣測量系統對于科研研究，工業測量，光學組件偏振特性測量，制造業生產/質檢等領域都有著廣泛應用可能。這套穆勒矩陣測量系統報包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學、生物、化學樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。

科研/工業研發

♦ 品控/質檢測量

♦ 如下各種樣品的全偏振特性的測量：

1. 科研級復雜內部結構光學組件

2. 各種雙折射/倍頻晶體

3. 復雜層級LCD

4. 同晶晶體

5. 各向異性晶體

6. 化學和生物光學各向異性材料

7. 由磁場/電場引起的各向異性樣品