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昆山友碩新材料有限公司
蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡
具有出色的探測效率,能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,*高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備*佳的靈活性,為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。
蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡
具有出色的探測效率,能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,*高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備*佳的靈活性,為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像,提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。
運用GeminiSEM系列產品,您可輕松**真實世界中任意樣品出色的圖像和可靠的分析結果
GeminiSEM 500 具有出色的分辨率,在較低的加速電壓下仍可呈現給您*強的信號和*豐富的細節信息,其**設計的NanoVP可變壓力模式,甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺;
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設計、*快的響應和*高的表面靈敏度,使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析,充當您的得力助手;
GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、*高的襯度和*大且無畸變的成像視野,可方便地選取適合樣品的真空度等環境參數,使FESEM初學者也能快速掌握;
基本規格 | 蔡司 GeminiSEM 500 | 蔡司 GeminiSEM 450 | 蔡司 GeminiSEM 300 |
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熱場發射電子槍,穩定性優于0.2 %/h | |||
加速電壓 | 0.02 - 30 kV | ||
探針電流 | 3 pA - 20 nA | 3 pA - 40 nA | 3 pA - 20 nA |
(100 nA配置可選) | (100 nA或300 nA配置可選) | (100 nA配置可選) | |
存儲分辨率 | 較高達32k × 24k 像素 | ||
放大倍率 | 50 – 2,000,000 | 12 – 2,000,000 | 12 – 2,000,000 |
標配探測器 | 鏡筒內Inlens二次電子探測器 | ||
樣品室內的Everhart Thornley二次電子探測器 | |||
可選配的 項目 | 鏡筒內能量選擇背散射探測器 | ||
- | 角度選擇背散射探測器 | 角度選擇背散射探測器 | |
環形STEM探測器(aSTEM 4) | |||
EDS能譜儀 | |||
EBSD探測器(背散射電子衍射) | |||
NanoVP可變壓力模式 | |||
VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中) | |||
局部電荷中和器 | |||
可訂制特殊功能樣品臺 | |||
環形背散射電子探測器 | |||
陰*射線熒光探測器 |
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